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產(chǎn)品簡介
北師大UV-313/UV-340雙通道紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。
詳細介紹
北師大UV-313/UV-340雙通道紫外輻照計產(chǎn)品概述
該款紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
北師大UV-313/UV-340雙通道紫外輻照計產(chǎn)品特點
光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正
數(shù)字液晶顯示，帶背光
手動/自動量程切換
數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
低電量提醒
自動延時關機
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
項目 | 參數(shù) | 備注 |
波長范圍λ1，峰值波長λp | （290～340）nm，λP＝313nm | 配備兩只探頭 |
波長范圍λ2，峰值波長λp | （315～370）nm，λP＝340nm | |
輻照度測量范圍 | （0.1～199.9×103） μW/cm2 |
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零值誤差（滿量程FS） | <滿量程的±1.0% |
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長波響應誤差 | <15% |
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余弦特性（方向性響應）誤差 | <10% |
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非線性誤差 | <±1.5% |
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換檔誤差 | <±1.0% |
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疲勞誤差 | <3.0% |
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相對示值誤差 | <±8.0％（相對于NIM標準） |
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響應時間 | <1秒 |
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使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH |
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尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg |
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電源 | 6F22型9V積層電池（非充電電池） |
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整機功耗 | ＜0.1VA |