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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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Mirion分段同軸HPGe探測(cè)器采用自80年代以來(lái)在平面探測(cè)器上可用的分割技術(shù)（見Gutknecht等人NIM A 288（1990）13-18），以提供來(lái)自每個(gè)檢測(cè)器單元（段）的高質(zhì)量信息信號(hào)，同時(shí)利用總檢測(cè)量（通常同軸檢測(cè)器可用）。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
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用于伽馬跟蹤,極化測(cè)量,多普勒效應(yīng)校正,β衰減抑制 在不同N型晶體幾何圖形上用光刻(多36段)對(duì)外部接觸進(jìn)行縱向和橫向分割 段間無(wú)死區(qū)或吸收材料 單片探測(cè)器 無(wú)可測(cè)串?dāng)_效應(yīng) 增加多檢測(cè)器系統(tǒng)的粒度 相互作用和伽馬射線的局域化 內(nèi)核信號(hào)與分段接觸信號(hào)重合的跟蹤能力
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是全國(guó)儀器儀表行業(yè)“產(chǎn)品研發(fā)、銷售、技術(shù)培訓(xùn)、設(shè)備維修”為一體供應(yīng)商
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