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M-1-日本 金屬探知 測(cè)試片
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  • M-1-日本 金屬探知  測(cè)試片

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貨物所在地: 江蘇南京市
產(chǎn)地: 日本
更新時(shí)間: 2024-09-11 15:07:27
期: 2024年9月11日--2025年3月14日
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產(chǎn)品簡介

日本 金屬探知 測(cè)試片
M-1
M-1 測(cè)試片
◎確認(rèn)檢查器和金屬探測(cè)器正常運(yùn)行的試驗(yàn)片“測(cè)試塊"。金屬的材質(zhì)形狀是“鐵球",卡片上顯示的大小的鐵球進(jìn)入了標(biāo)記中。

詳細(xì)介紹

日本 金屬探知 測(cè)試片

M-1 

 

 M-1 測(cè)試片

◎確認(rèn)檢查器和金屬探測(cè)器正常運(yùn)行的試驗(yàn)片“測(cè)試塊”。金屬的材質(zhì)形狀是“鐵球”,卡片上顯示的大小的鐵球進(jìn)入了標(biāo)記中。

 

◎名片尺寸厚度較薄的卡片,可以夾在產(chǎn)品里,或者放在產(chǎn)品上通過傳感器門的話,就 容易準(zhǔn)確地表現(xiàn)出從皮帶面開始的位置。

 ◎卡片式測(cè)試塊是日本金屬探測(cè)器制造的 產(chǎn)品。

 

◎也接受其他的尺寸、材質(zhì)(不銹鋼)。

 

 

N-1 郵件金屬探測(cè)器MELTA-OM

 

 

查附在郵件里的金屬。

 

◎可以檢測(cè)鐵、有色,剪輯、訂書機(jī)等難以檢測(cè)。

 

◎帶有10個(gè)等級(jí)的靈敏度調(diào)整功能,可以進(jìn)行細(xì)致的檢測(cè)。

 

◎平衡電路,開啟開關(guān)即可使用,無需調(diào)節(jié)。

 

日本 金屬探知 測(cè)試片

M-1 

ATTER-DIM

ATTER-DS2

IPD-9AS

IPD-5ES

IPD-11A

IPD-12A

DB-44

DB-41

ATTER-78

ATTER-S102 / 104

以上相關(guān)信息僅供參考,具體以廠家實(shí)際出廠為準(zhǔn),有關(guān)產(chǎn)品型號(hào)、外觀、參數(shù)、圖紙等,請(qǐng)咨詢。

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