美國Calmetrics標準片銅厚Cu純元素無限大 返回列表頁

美國Calmetrics標準片銅厚Cu純元素無限大 標準片是用來為膜厚測試儀建立標準檔案的，同時也是檢驗和校準膜厚測試儀測試數據是否準確的為一標準。它屬于易損易耗件，但是其的使用壽命卻與操作方法及存放環(huán)境息息相關，若操作得當，小心保護且存放在干燥密封的皿器內，那么可大大延長其的使用時間。膜厚標準片是膜厚測試儀（X射線鍍層測厚儀）*的。

美國Calmetrics標準片銅厚Cu純元素無限大 實物圖片：

美國Calmetrics公司專業(yè)生產X射線熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件，提供對標準件的校準服務，公司通過ISO/IEC 17025認證。公司提供所有證書符合NIST（National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院）標準或ANSI（American National Standards Institute美國國家標準學會）標準。其生產的標準片質量精良，精度高、穩(wěn)定性好。

Calmetrics鍍層標準片適用于費希爾Fischer、韓國ISP、日立Hitachi（包括：牛津儀器Oxford（CMI）、精工Seiko）熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津、電測、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌的測厚儀。

X射線測厚儀鍍層標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。如：單鍍層：Au/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx，三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx，合金鍍層：Ni-P/xx。

鍍層標準片適用于X射線類儀器的標準。市面上絕大多部分的手持式熒光儀的厚度標準件都來自于美國Calmetrics公司。

X射線標準片又叫膜厚儀校準片或者薄膜片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。

銅 Cu 1μm 膜厚標準片測厚儀標準片又名膜厚儀校準片：

專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線，之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。