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當前位置:> 供求商機> iEDX-100T-X射線膜厚測試儀
(一)X射線膜厚測試儀產(chǎn)品優(yōu)勢
1. 鍍層檢測,多鍍層檢測可達5層,精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內(nèi)。
2. 儀器尺寸:618*525*490mm。
3. 激光定位和自動多點測量功能。
(二)X射線膜厚測試儀產(chǎn)品特征
2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)。
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄鍍層厚度測量
相對(比)模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應用 [如:Cu/ABS等]
雙鍍層應用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應 [如:Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
5. Smart-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊。可同時分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。
Smart-Ray. 金屬行業(yè)精確定量分析軟件。可一次性分析25種元素。小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達+ /-0.02%,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達+ /-0.05kt
Smart-Ray。含全元素、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊。
自動移動平臺,用戶使用預先設(shè)定好的程序進行自動樣品測量。大測量點數(shù)量 = 每9999 每個階段文件。每個階段的文件有多 25 個不同應用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。
(三)X射線膜厚測試儀產(chǎn)品配置及技術(shù)指標說明
u 測量原理:能量色散X射線分析 | u 樣品類型:固體/粉末 |
u X射線光管:50KV,1mA | u過濾器:多重濾光片自動轉(zhuǎn)換 |
u檢測系統(tǒng):SDD探測器(或Si-Pin) | u能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV) |
u檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92) | u準直器孔徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選) |
u應用程序語言:韓/英/中 | u分析方法:FP/校準曲線,吸收,熒光 |
u儀器尺寸:618*525*490mm | u樣品腔尺寸:340*280*108mm |
1. X射線管:高穩(wěn)定性X光光管
微焦點X射線管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口, 陽極焦斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,1mA。高壓和電流設(shè)定為應用程序提供優(yōu)異性能。
能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
初級濾光片:Al濾光片,自動切換
7個準直器:客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。
(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
5. 分析譜線:
- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)
- 基點改正(基線本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示
6.視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
- 觀察范圍:3mm x 3mm
- 放大倍數(shù):40X
- 照明方法:上照式
- 軟件控制取得高真圖像
7. 計算機、打印機(贈送)
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