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一、產(chǎn)品概述
鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測試
產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析設(shè)備
產(chǎn)品名稱:鍍層厚度測試儀
型 號:iEDX-150T
生 產(chǎn) 商:韓國ISP公司
產(chǎn)品圖片:
鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測試iEDX-150T
工作條件 | |
●工作溫度:15-30℃ | ●電源:AC: 110/220VAC 50-60Hz |
●相對濕度:<70%,無結(jié)露 | ●功率:150W + 550W |
二、產(chǎn)品優(yōu)勢及特征
(一)產(chǎn)品優(yōu)勢
(二)產(chǎn)品特征
2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)。
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測量
相對(比)模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應(yīng)用 [如:Cu/ABS等]
雙鍍層應(yīng)用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應(yīng)用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應(yīng)用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應(yīng) [如:Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
Smart-Ray. 金屬行業(yè)**定量分析軟件。可一次性分析25種元素。小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進(jìn)行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達(dá)+ /-0.02%,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達(dá)+ /-0.05kt
Smart-Ray。含全元素、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊。
三、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明
u 測量原理:能量色散X射線分析 | u 樣品類型:固體/粉末 |
u X射線光管:50KV,1mA | u過濾器:5過濾器自動轉(zhuǎn)換 |
u檢測系統(tǒng):SDD探測器(或Si-Pin) | u能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV) |
u檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92) | u準(zhǔn)直器孔徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選) |
u應(yīng)用程序語言:韓/英/中 | u分析方法:FP/校準(zhǔn)曲線,吸收,熒光 |
u儀器尺寸:618*525*490mm | u樣品臺移動距離(自動臺):160*150*90mm |
u樣品臺尺寸:250*225mm |
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微焦點X射線管、Mo (鉬) 靶鈹窗口, 陽極焦斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供**性能。
能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
初級濾光片:Al濾光片,自動切換
7個準(zhǔn)直器:客戶可選準(zhǔn)直器尺寸或定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。
(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
6. 分析譜線:
- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)
- 基點改正(基線本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示
7.視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
- 觀察范圍:3mm x 3mm
- 放大倍數(shù):40X
- 照明方法:上照式鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測試
- 軟件控制取得高真圖像
8. 計算機、打印機(贈送)
注:設(shè)備需要配備穩(wěn)壓器,需另計。
鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測試
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