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如何查找反滲透系統(tǒng)和膜元件的故障

閱讀:1096      發(fā)布時(shí)間:2015-3-5
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    經(jīng)過(guò)“標(biāo)準(zhǔn)化"后的產(chǎn)品水流量和鹽透過(guò)率才可用于查找故障。分為在線研究和離線研究。
(1)在線研究
  當(dāng)發(fā)現(xiàn)某個(gè)壓力容器的鹽透過(guò)率高,則需要測(cè)量每一個(gè)膜元件的產(chǎn)品水電導(dǎo)率來(lái)確定問(wèn)題的起源,使用一根塑料或不銹鋼管在產(chǎn)品水管不同位置取樣測(cè)量電導(dǎo)率,取樣管上可以做上記號(hào),這些記號(hào)的位置相當(dāng)于需取樣的位置,取樣管先插入到產(chǎn)品水管zui遠(yuǎn)端,取樣測(cè)電導(dǎo)率,然后一段段向回抽,得到電導(dǎo)率變化曲線。當(dāng)給水流過(guò)壓力容器時(shí)逐漸變濃,引起產(chǎn)品水濃度增加,取樣的電導(dǎo)率從上一個(gè)游到下一個(gè)膜元件電導(dǎo)率的變化約為10%,如果這個(gè)變化幅度過(guò)大,則表明問(wèn)題所在,如果某點(diǎn)位置電導(dǎo)率介躍變化,表明機(jī)械泄露。從分析產(chǎn)品水中二價(jià)離子與一價(jià)離子的比率的變化也可推測(cè)出是否發(fā)生了泄露。
(2)離線研究
  卷式膜元件的非破壞性離線研究只有真空試驗(yàn)一種方法,(是美國(guó)ASTM標(biāo)準(zhǔn),B3923),如果真空破壞超過(guò)每分鐘20kPa亦即6in汞柱則表明膜元件嚴(yán)重泄露而不能再使用。如果試驗(yàn)不能揭示問(wèn)題,則可能需要進(jìn)行破壞性(解剖)分析,可以檢查膜元件內(nèi)部情況,對(duì)部件進(jìn)行試驗(yàn)和分析污染物。

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