上海進(jìn)與科學(xué)儀器有限公司

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[供應(yīng)]Leica EM TXP徠卡 精研一體機(jī)

貨物所在地:國外

產(chǎn)地:奧地利

更新時間:2024-10-04 21:00:07

有效期:2024年10月4日 -- 2025年4月4日

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EM TXP 精研一體機(jī):是一臺集切割、研磨、拋光和觀察于一體的多功能設(shè)備??商幚砀鞣N材質(zhì)樣品,且可在光鏡觀察下進(jìn)行實時精密定位和加工,小步進(jìn)可達(dá)500nm!

徠卡 EM TXP 精研一體機(jī)

?多功能一體機(jī)

?精確定位、精密加工

?實時觀察

?自動模式、手動模式

 

徠卡 EM TXP 精研一體機(jī)

徠卡EM TXP 標(biāo)靶面制備系統(tǒng)具有定點修塊拋光功能,是用鋸,磨,銑削,拋光樣品后,供掃描電鏡,透射電鏡,和LM技術(shù)檢測。帶有一體化體視鏡,用于精確定位及對較細(xì)微難以觀察的目標(biāo)位置進(jìn)行樣品處理時觀察;使用樣品旋轉(zhuǎn)手柄,可以改變樣品觀察角度,0°-60°可調(diào),或者垂直于樣品前表面90°觀察,可利用目鏡刻度標(biāo)尺測量距離。

精準(zhǔn)高效,無需包埋即可定點切割和拋光位置或細(xì)小樣品,樣品加工端面*各角度調(diào)整
小步進(jìn)可達(dá)500nm,坐標(biāo)精確顯示加工量
薄片樣品制備,厚度可控制在數(shù)十微米
應(yīng)力實時顯示,應(yīng)力反饋系統(tǒng)保護(hù)脆性易碎樣品不被破壞
為離子束切割儀TIC3X做前期樣品制備
為離子束減薄儀RES102做前期樣品制備
為超薄切片UC7做前期樣品制備,精準(zhǔn)修塊

脆性樣品無需包埋,可直接夾持,大大節(jié)省制樣時間。

標(biāo)配徠卡體式鏡,操作流程可實時觀察,所見即所得,不會錯過想要觀察的位置。

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