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| 應用領域 | 電子,印刷包裝,航天,汽車,電氣 |
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產品簡介
詳細介紹
概述：
C型試驗探棒(試具C探針)符合IEC61032圖2試具C、IEC60529IP3、GB4208IP3、GB/T16842試具C、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標準要求。
用途：
用于防止手持工具觸及的防護檢驗?！ ?/span>
參數(shù)：
可訂制帶3±0.3N推力。
概述：
C型試驗探棒(試具C探針)符合IEC61032圖2試具C、IEC60529IP3、GB4208IP3、GB/T16842試具C、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標準要求。
用途：
用于防止手持工具觸及的防護檢驗。
參數(shù)：
可訂制帶3±0.3N推力。
相關設備：
A型試驗探棒符合IEC61032圖1試具A、GB16842試具A、GB4208IP1、IEC60529IP1、IEC60065等標準要求。用于防止手背觸及的防護檢驗，可訂制帶50±5N推力。
B型試驗探棒符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標準要求。用于防止手指觸及或防觸電檢驗的防護檢驗。 帶10±1N推力。