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產(chǎn)品介紹 | Revox高亮光纖光源點亮半導(dǎo)體檢測新未來

閱讀:29      發(fā)布時間:2025-7-17
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在半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中,檢測是提升良率的關(guān)鍵環(huán)節(jié),主要針對晶圓上的物理缺陷和圖案缺陷。光學(xué)檢測憑借非接觸、快速和低成本的優(yōu)勢成為主流方案,而光源的性能直接影響檢測效率與可靠性--高亮度、高穩(wěn)定和多波長選擇缺一不可。 


傳統(tǒng)鹵素?zé)粢驂勖蹋?lt;1000小時)、亮度不足、紫外波段覆蓋差且面臨環(huán)保淘汰,已無法滿足需求。Revox的SLG系列光纖光源以超高亮度、>2萬小時超長壽命和紫外到紅外的多波長覆蓋,成為半導(dǎo)體、顯示及PCB檢測的理想選擇,助力客戶實現(xiàn)更高效、穩(wěn)定的檢測流程。


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Revox產(chǎn)品推薦

01 紫外光纖光源

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短波長、高精度SLG-150V-UV系列


  • 非常適合替換汞燈

  • 高輻射亮度:4.9W@365nm、8.2W@385nm、7.6W@405nm

  •  3 種標準波長外,還可定制11種紫外波長



02 可見光光纖光源


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經(jīng)濟之選(SLG-150V/165V系列)


  • 照度>500萬LUX,遠超250W金屬鹵化物光源

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  • 波長可選白色(CW/DW)R、G、B

  • 165V系列支持5孔電動濾色片轉(zhuǎn)盤



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多端口、分時頻閃(SLG-150HSP系列)


  • 支持3路獨立輸出,節(jié)省空間

  • 可自由選配顏色W、R、G、B

  • 支持高速頻閃結(jié)合高速切換功能,可輕松實現(xiàn)分時頻閃/光譜頻閃



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超亮、自由混光(SLG-450系列)


  • 超高照度超過2500萬LUX

  • R、G、B混合比例可調(diào)、鎖定,單口輸出各種顏色光

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  • 支持常亮、頻閃模式,可設(shè)置8組亮度值


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旗艦、超亮之選(SLG-600V2系列)


  • >5500萬LUX超高照度,氙燈升級優(yōu)選

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  • 可選支持5孔位電動濾色片轉(zhuǎn)盤

  • 1μs極速頻閃,高速切換任意設(shè)定的亮度



03 紅外光纖光源

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更強的穿透性(SLG-150V-NIR系列)


  • 740-1650nm全紅外波段覆蓋,11種波長可選,替代鹵素光源

  • 超長壽命可達3萬小時,遠超鹵素?zé)?/span>

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產(chǎn)品特性


01 良好的線性度

支持1024級調(diào)光,獨特校正功能,實現(xiàn)調(diào)光線性

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02 照明穩(wěn)定

環(huán)境適應(yīng)性強,亮度波動≤±3%

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03 照度反饋系統(tǒng)

智能照度反,維持恒定光輸出

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注:SLG-150/165系列需選配;SLG-450/SLG-600系列標配



04 豐富的光纖波導(dǎo)選擇

可選或定制點、環(huán)、線、面等光波導(dǎo)


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典型應(yīng)用


01 晶圓表面缺陷檢測--可見光光纖光源

超亮白光搭配線掃TDI相機,顯著縮短曝光時間,大幅提升晶圓掃描效率

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02 晶圓內(nèi)部缺陷檢測--紅外光纖光源

紅外高穿透特性,直達內(nèi)部缺陷

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03 晶圓表面微小缺陷檢測--紫外光纖光源

突破可見光極限,微痕精準成像

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04 多缺陷檢測--分時頻閃成像

單工位實現(xiàn)3種光場成像,多類缺陷檢出

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