電鍍層膜厚測量儀X-RAY測厚儀XRF-2000

Micropioneer XRF-2020鍍層測厚儀

電鍍層膜厚測量儀X-RAY測厚儀XRF-2000

測量

各類五金,電子連接器端子半導體等電鍍層厚度。

可測

金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鉻,銠,鉑,鋅鎳合金等鍍層。

可測

單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層等。

適應

電鍍生產(chǎn)企業(yè)，產(chǎn)品來料檢測半導體五金電鍍等相關(guān)行業(yè)。

微先鋒測厚儀韓國XRF-2000膜厚儀

可測

單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層

鍍銀測量范圍0.1-50um

鍍鎳測量范圍0.5-30um

鍍銅測量范圍0.5-30um

鍍錫測量范圍0.5-50um

鍍金測量范圍0.02-6um

鍍鋅測量范圍1-30um

鋅鎳合金測量范圍1-25um

鍍鉻測量范圍0.5-25um

儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換

韓國先鋒XRF-2020L型H型

MicropXRF-2000,XRF-2020

電鍍層膜厚測量儀X-RAY測厚儀XRF-2000

功能

特點:

全自動臺面，自動雷射對焦，多點自動測量

儀器全系均為全自動臺，自動雷射對焦！

多點自動測量

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換

快速無損測量電鍍層厚度，可測單鍍層，雙鍍層，多層鍍層及合金鍍層