詳細介紹
XRF-2020測厚儀韓國Micropioneer膜厚測量儀
規(guī)格如下圖
XRF-2020測厚儀韓國Micropioneer膜厚測量儀
產(chǎn)品功能:
1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材!
1. 鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金,鉻,鋅鎳合金等。
2. 鍍層層數(shù):可測5層。
3. 測量產(chǎn)品位置尺寸:標準配備0.2mm準直器,測量產(chǎn)品大于0.4mm(可訂制更小準直器)
4. 測量時間:通常15秒。
5. H型號機箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)。
6 L型號機箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)。
7. 測量誤差:通常小于5%,視樣品具體情況而定。
8. 可測厚度范圍:通常0.01微米到60微米