韓國微先鋒Micropioneer
XRF-2000測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片
可應(yīng)用各種X射線測厚儀品牌
用于校正測厚儀標(biāo)準(zhǔn)及添加應(yīng)用程序
X射線鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片X-RAY膜厚儀校正片

X射線鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片X-RAY膜厚儀校正片

 

標(biāo)準(zhǔn)片廠牌：韓國Micropioner

標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)用X-RAY鍍層測厚儀,不同品牌鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片通用

用于校正鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)及添加測量應(yīng)用程序

 

韓國XRF-2020測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片

銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/銠/鉑/鈀/鋅鎳合金等

各種厚度范圍均可訂制，附帶標(biāo)準(zhǔn)證書

 

X射線鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片X-RAY膜厚儀校正片

 

X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。

是膜厚測試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品

根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。

 

以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

對于PCB、電子元器件，端子連接器，五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。 

 

MicropioneerXRF-2020鍍層測厚儀三款機(jī)型如下圖

檢測電子電鍍層厚儀，測量鍍金,鍍銀，鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍鋅鎳合金等

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層

 

 

金標(biāo)準(zhǔn)片，銀標(biāo)準(zhǔn)片，鎳標(biāo)準(zhǔn)片，錫標(biāo)準(zhǔn)片，銅標(biāo)準(zhǔn)片，鋅標(biāo)準(zhǔn)片如下圖

 

 

鈀標(biāo)準(zhǔn)片，銠標(biāo)準(zhǔn)片，鉑標(biāo)準(zhǔn)片如下圖

 

 

XRF-2020鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片通用各品牌X-RAY鍍層測厚儀

銅，鎳，鉻，鋅，金，銀，錫，鋅鎳，鈀，鉑，銠各種厚度

規(guī)格均可訂制，校準(zhǔn)片均附帶證書

 

X射線鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片X-RAY膜厚儀校正片