波束采樣器

400-700納米高分辨率涂層

不同厚度的直徑獲得報價

波束采樣器用于通過使用未涂布表面的菲涅耳反射來提取光束樣品。波束采樣器用于監(jiān)測必須盡量減少傳輸波束擾動的應用。背面是楔形的,以避免內部條紋和防反射涂布去除幽靈圖像。定制尺寸和防反射涂料可根據特殊要求提供。

規(guī)格和公差

文件/圖紙

曲線圖

相關產品

    物質的:    BK7或等效和熔熔二氧化硅

    表面質量:    40 - 20 ( scratch-dig )

    尺寸公差:    +0.00, -0.2 nm

    厚:    ± 0.2 mm

    透明孔徑:    90 %

    表面平坦度:    λ / 4 @ 632.8 nm

    Reflectance, R 平均值:    5% @ 45°

    楔形物:    30+10弧分

    覆蓋的:    正面:-無涂層

    Back surface :- anti-reflection @ 400 - 700nm

型號編號直徑(毫米)厚度(毫米)物質的Price ($)

HO-BS-N-12.512.53BK7或相當的29.00

HO-BS-F-12.512.53二氧化硅42.00

HO-BS-N-25255BK7或相當的49.00

HO-BS-F-25255二氧化硅84.00

HO-BS-N-50508BK7或相當的80.00

HO-BS-F-50508二氧化硅187.00

400-700納米高分辨率涂層

不同厚度的直徑獲得報價

波束采樣器用于通過使用未涂布表面的菲涅耳反射來提取光束樣品。波束采樣器用于監(jiān)測必須盡量減少傳輸波束擾動的應用。背面是楔形的,以避免內部條紋和防反射涂布去除幽靈圖像。定制尺寸和防反射涂料可根據特殊要求提供。

規(guī)格和公差

文件/圖紙

曲線圖

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    物質的:    BK7或等效和熔熔二氧化硅

    表面質量:    40 - 20 ( scratch-dig )

    尺寸公差:    +0.00, -0.2 nm

    厚:    ± 0.2 mm

    透明孔徑:    90 %

    表面平坦度:    λ / 4 @ 632.8 nm

    Reflectance, R 平均值:    5% @ 45°

    楔形物:    30+10弧分

    覆蓋的:    正面:-無涂層

    Back surface :- anti-reflection @ 400 - 700nm

型號編號直徑(毫米)厚度(毫米)物質的Price ($)

HO-BS-N-12.512.53BK7或相當的29.00

HO-BS-F-12.512.53二氧化硅42.00

HO-BS-N-25255BK7或相當的49.00

HO-BS-F-25255二氧化硅84.00

HO-BS-N-50508BK7或相當的80.00

HO-BS-F-50508二氧化硅187.00