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Politrack意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)
  • Politrack意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)
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貨物所在地：北京北京市

所在地： 意大利

更新時間：2024-03-18 09:19:38

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Politrack意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)是用于固體核徑跡蝕刻探測器的全自動掃描測量系統(tǒng)。提供了多種軟件包，適用于CR-39 、LR115 、CR-39快中子和熱中子以及LET光譜測量。

Politrack意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)簡介：

•Politrack® 是用于固體核徑跡蝕刻探測器的全自動掃描測量系統(tǒng)。

•Politrack可以讀取 CR-39 和 LR115 探測器。主要應用于各類研究，氡和中子的劑量測定。

•Politrack提供了多種軟件包，適用于CR-39 、LR115 、CR-39快中子和熱中子以及LET光譜測量。

•掃描面積可達 205x205 mm2，用戶可定義探測器尺寸和讀取面積。通過 OCR 讀取探測器ID。

•在掃描開始時執(zhí)行的自動對焦例程可確保在整個讀取過程中使圖像聚焦探測器表面。

•形態(tài)分析會將對來自不同粒子或具有不同能量的徑跡蝕刻進行分類，并去除本底噪聲。

•形態(tài)參數(shù)中具有濾鏡功能，用戶可以看到應用濾鏡后會發(fā)生或出現(xiàn)什么狀態(tài)，并且以此進行修改參數(shù)范圍或強度。軟件可對與徑跡密度成正比的徑跡重疊進行校正。

•輸出數(shù)據(jù)文件包含所有探測器相關數(shù)據(jù)，用戶可以自定義輸出模板和格式（與Excel*兼容）。




Politrack意大利Miam固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)特點：

•任何尺寸的CR-39和LR115檢測器均可讀數(shù)

•精密的徑跡蝕刻形態(tài)分析

•CR-39檢測器老化校正

•LR115殘余厚度校正

•重疊校正

•清晰明確的算法，不存在黑匣子

•操作員可設置和修改所有參數(shù)



Politrack固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)應用領域：

•各類研究工作

•劑量測定服務

•氡測量

•快中子

•熱中子

•LET光譜



Politrack固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)操作方法：

用戶可以定義探測器的類型和尺寸，讀取區(qū)域以及所有掃描參數(shù)。形態(tài)分析可以區(qū)分來自不同粒子和具有不同能量的徑跡，去除本底干擾。


所有算法清晰明確，用戶可以通過功能強大的圖形工具輕松修改和/或應用形態(tài)分析濾鏡，并實時可視化結果。若需更改參數(shù)，可直接使用二次計算工具，而無需重新讀取探測器。輸出文件包含所有探測器相關掃描數(shù)據(jù)，用戶可自定義輸出模板和格式。


蜂窩抗振面包板 550x750x40毫米
三軸微步電機控制板
顯微鏡： 4x +針孔（rad）; 20x  +冷凝器（中子）
掃描架 200x200 mm
Z軸精密線性平臺 重復精度+/- 0.5微米
相機 1/3英寸CCD USB3 1280x960 b / n，30幀/秒
XY電動掃描臺 205x205mm，90mm /  sec，分辨率<1微米
LED系統(tǒng) 用于樣品背光
軟件包： CR-39 ,、 LR115 ,、 CR-39中子/ LET光譜儀





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