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中級(jí)會(huì)員 | 第7年

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當(dāng)前位置:深圳市米恩科技有限公司>>測(cè)試系統(tǒng)>>致茂測(cè)試系統(tǒng)>> 7505致茂Chroma7505半導(dǎo)體*封裝光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)

致茂Chroma7505半導(dǎo)體*封裝光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)

參  考  價(jià):50000 - 500000 /件
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào)

    7505

  • 品牌

    Chroma/致茂

  • 廠商性質(zhì)

    代理商

  • 所在地

    深圳市

更新時(shí)間:2024-11-29 19:42:35瀏覽次數(shù):1100次

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產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 電子
致茂Chroma7505半導(dǎo)體*封裝光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)
整合白光干涉量測(cè)技術(shù),進(jìn)行非破壞性的光學(xué)尺寸量測(cè)。
可進(jìn)行待測(cè)物之關(guān)鍵尺寸(CD)、Overlay(OVL)及Thickness等量測(cè)需求
垂直與水平軸向掃描范圍大,適合各種自動(dòng)量測(cè)之應(yīng)用,大量測(cè)尺寸達(dá)12吋晶圓
待測(cè)物皆不需前處理即可進(jìn)行非破壞且快速的表面形貌量測(cè)與分析

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致茂Chroma7505半導(dǎo)體*封裝光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)

主要特色:

  • 整合白光干涉量測(cè)技術(shù),進(jìn)行非破壞性的光學(xué)尺寸量測(cè)。
  • 可進(jìn)行待測(cè)物之關(guān)鍵尺寸(CD)、Overlay(OVL)及Thickness等量測(cè)需求
  • 垂直與水平軸向掃描范圍大,適合各種自動(dòng)量測(cè)之應(yīng)用,大量測(cè)尺寸達(dá)12吋晶圓
  • 待測(cè)物皆不需前處理即可進(jìn)行非破壞且快速的表面形貌量測(cè)與分析
  • 提供快速自動(dòng)對(duì)焦演算法與大面積接圖功能
  • 提供腳本量測(cè)功能具備自動(dòng)量測(cè)能力
  • 提供量測(cè)數(shù)據(jù)資料的存檔功能,供后續(xù)操作人員處理分析使用
  • 本設(shè)備已通過SEMI S2認(rèn)證
  • 可搭配EFEM

Chroma 7505 Series半導(dǎo)體*封裝光學(xué)量測(cè)系統(tǒng)主要整合白光干涉量測(cè)技術(shù),進(jìn)行非破壞性的12吋晶圓之3D關(guān)鍵尺寸量測(cè)??蛇M(jìn)行待測(cè)物之關(guān)鍵尺寸(CD)、Overlay(OVL)及Thickness等量測(cè)需求,同時(shí)配備電動(dòng)調(diào)整移動(dòng)平臺(tái),可對(duì)樣品做自動(dòng)調(diào)平及定位。垂直與水平軸向掃描范圍大,適合各種自動(dòng)量測(cè)之應(yīng)用,待測(cè)物皆不需前處理即可進(jìn)行非破壞且快速的表面形貌量測(cè)與分析,并提供快速自動(dòng)對(duì)焦演算法與大面積接圖功能以及腳本量測(cè)功能具備自動(dòng)量測(cè)能力,此外系統(tǒng)亦提供量測(cè)數(shù)據(jù)資料的存檔功能,供后續(xù)操作人員處理分析使用。

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7505 Series半導(dǎo)體*封裝光學(xué)量測(cè)系統(tǒng)

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