薄膜厚度測量儀以F20平臺為基礎所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng)，能夠快速的分析薄膜的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件的模擬演算法設計，能夠在厚膜中測量單層與多層(例如：底漆或硬涂層等)。

簡易操作界面

現(xiàn)在，具有新樣板模式功能的F10-HC將更容易使用，這個功能允許用戶匯入樣品的影像，并直接在影像上定義測量位置。系統(tǒng)會自動通知使用者本次測量結果是否有效，并將測量的結果顯示在匯入的影像上讓用戶分析。

不需要手動基準校正

薄膜厚度測量儀F10-HC現(xiàn)在能夠執(zhí)行自動化基準矯正以及設置自己的積分時間這個創(chuàng)新的方法不需要頻繁的執(zhí)行基準矯正就可以讓使用者立即的執(zhí)行樣本的測量 。

背面反射干擾

背面反射干擾對厚度測量而言是一個光學技術的挑戰(zhàn)，具有F10-HC系統(tǒng)的*接觸式探頭能將背面反射干擾的影響最小化，使用者能以較高的精準度來測量涂層厚度。

選擇Filmetrics的優(yōu)勢

• 24小時電話，郵件和在線支持

• 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標準分析軟件

附 加 特 性

• 嵌入式在線診斷方式

• 免費離線分析軟件

• 精細的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效地存儲，重現(xiàn)與繪制測試結果