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半導(dǎo)體芯片拉力測試機的應(yīng)用:產(chǎn)品特點、參數(shù)、夾具介紹

時間:2023/6/16閱讀:1115
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半導(dǎo)體芯片是當(dāng)代電子設(shè)備中的核心組件之一。無論是計算機、手機、平板電腦還是智能家居,都離不開這些關(guān)鍵的芯片。然而,由于芯片的制造過程異常復(fù)雜,為了確保芯片的質(zhì)量和可靠性,需要做各種測試。其中,推拉力測試是一項非常重要的測試之一。

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半導(dǎo)體芯片推拉力測試機是一種用于測試和評估半導(dǎo)體芯片的強度和耐久性的機器。它可以通過施加推拉力來模擬芯片在實際使用中可能遭受的壓力,以確保芯片在長時間使用過程中不會出現(xiàn)故障或損壞。

在半導(dǎo)體芯片制造和質(zhì)量控制的過程中,這些測試機器發(fā)揮著重要的作用,幫助生產(chǎn)商和制造商確保芯片的可靠性和穩(wěn)定性。下面就跟著科準(zhǔn)測控的小編一起了解下半導(dǎo)體芯片推拉力測試機的產(chǎn)品特點和用途。

一、產(chǎn)品特點

1、測試類型

六大測試類型,滿足不同測試需求

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2、技術(shù)參數(shù)

a、推力測試模塊:測試精度±0.25%;

b、拉力測試模塊:測試精度±0.25%

c、采樣速度越高,測量值越趨近實際值。采用高性能采集芯片,有效采集速度可達(dá)5000HZ以上。

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d、軟件可開放選擇:拉力測試:(100G);鋁帶拉力測試:1KG;推錫球:250G/5KG;推晶片:5KG/100KG。

e、X工作臺:有效行程200mm;分辯率0.001mm

f、Y工作臺:有效行程160mm;分辯率0.001mm

g、Z工作臺:有效行程60mm;分辯率0.001mm

h、平臺夾具:平臺可共用各種夾具,按客戶產(chǎn)品訂制。

i、雙搖桿控制機器四軸運動,操作簡單快捷

j、機器自帶電腦,windows操作系統(tǒng),軟件操作簡單,顯示屏可一次顯示多組測試數(shù)據(jù)及力值分布曲線;并可實時導(dǎo)出、保存數(shù)據(jù);

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3、夾具和工裝

根據(jù)不用應(yīng)用需求,搭配不同夾具工裝

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4、測試模組選擇

根據(jù)測試需要更換相對應(yīng)的測試模組,系統(tǒng)自動識別模組量程??梢造`活得應(yīng)用到不同產(chǎn)品的測試,每個工位獨立設(shè)置安全高度位及安全限速,防止誤操作對測試針頭造成損壞。且具有測試動作迅速、準(zhǔn)確、適用面廣的特點。

 

二、應(yīng)用范圍

1、各種類型的芯片測試—包括微處理器、存儲器、傳感器等。

2、焊帶拉力測試- 采用多種鉤、鉗爪等負(fù)載刀具,可對各種尺寸和類型的樣品進(jìn)行拉力測試。

3、熱碰/針拉測試- 焊接測試具備更高的準(zhǔn)確性,特別適用于對印刷電路板材料和低焊料凸點進(jìn)行測試。

4、銅線焊球拉力測試、焊釘和柱狀凸塊的拉力測試- 專用拉力鉗爪可用于對這些關(guān)鍵連接部位進(jìn)行撕拉力測試。

5、拉力剪切力疲勞測試- 疲勞分析在評估焊點可靠性中變得越來越重要??刹捎美图羟辛煞N模式進(jìn)行老化疲勞分析,以調(diào)整軟件和硬件。

6、鈍化層剪切測試- 使用特定負(fù)載刀具和軟件,可以進(jìn)行焊球的剪切力測試,而不受鈍化層的限制。

三、安裝調(diào)試條件

1)無氣流影響、無熱源、防震動的潔凈車間,無塵車間更佳 。

2)環(huán)境條件,溫度:20℃-30℃;濕度:40%--70%。

3)穩(wěn)定結(jié)實的工作平臺,需至少能承受 80 公斤的重量;

3)電源要求,接地線,電壓:220V;頻率:50HZ;

4)壓縮空氣:干燥潔凈得空氣源。要求:

四、相關(guān)用戶問題咨詢

1、led芯片推拉力測試原理

通過左右搖桿將測試頭移動至所測試產(chǎn)品后上方,按測試后,Z軸自動向下移動,當(dāng)測試針頭觸至測試基板表面后,Z向觸信號啟動,停止下降,Z軸向上升至設(shè)定的剪切高度后開始推力測試。Y軸按軟件設(shè)定的測試速度勻速移動,當(dāng)產(chǎn)品斷裂后自動停止,顯示測試數(shù)據(jù)。

2、芯片推拉力測試機價格

芯片推拉力測試機價格的范圍很大,從幾萬元到幾十萬元不等,具體價格取決于設(shè)備的品牌、型號、性能和功能等因素。

3、半導(dǎo)體芯片測試機品牌

半導(dǎo)體芯片測試機品牌包括科準(zhǔn)測控、Advantest、Teradyne、Chroma ATE、LTX-Credence等。

 

以上就是小編介紹的半導(dǎo)體芯片推拉力測試機的內(nèi)容了,希望可以給大家?guī)韼椭?!如果您還想了解更多關(guān)于芯片推力測試標(biāo)準(zhǔn)、芯片拉力測試的目的、芯片推力的計算方法、基本機器操作、pcb推力測試和電子元器件推拉力標(biāo)準(zhǔn)等問題,歡迎您關(guān)注我們,也可以給我們私信和留言,科準(zhǔn)測控技術(shù)團(tuán)隊為您免費解答!

 

 


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