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Leak-M-包材密封性測(cè)試(CCIT)儀
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更新時(shí)間:2025-01-15 08:55:23

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包材密封性測(cè)試(CCIT)儀Leak-M是根據(jù)真空衰減法的原理設(shè)計(jì)研發(fā)的,滿(mǎn)足ASTM F 2338-09相關(guān)方法,符合中國(guó)CDA《上市化學(xué)仿制藥(注射劑)一致性評(píng)價(jià)技術(shù)要求》。精度可到達(dá)檢測(cè)3微米漏孔,是*無(wú)損檢測(cè)技術(shù),測(cè)試誤差極小,降低泄漏風(fēng)險(xiǎn);減少原料耗費(fèi),降低生產(chǎn)成本,由于是無(wú)損測(cè)試,全部包裝可以返回市場(chǎng)銷(xiāo)售;可以獲得漏孔級(jí)別;無(wú)需樣品制備,無(wú)損、定量、可靠、可重復(fù)、客觀(guān)。

   包材密封性測(cè)試(CCIT)儀Leak-M是根據(jù)真空衰減法的原理設(shè)計(jì)研發(fā)的,滿(mǎn)足ASTM F 2338-09相關(guān)方法,符合中國(guó)CDA《上市化學(xué)仿制藥(注射劑)一致性評(píng)價(jià)技術(shù)要求》。精度可到達(dá)檢測(cè)3微米漏孔,是*無(wú)損檢測(cè)技術(shù),測(cè)試誤差極小,降低泄漏風(fēng)險(xiǎn);減少原料耗費(fèi),降低生產(chǎn)成本,由于是無(wú)損測(cè)試,全部包裝可以返回市場(chǎng)銷(xiāo)售;可以獲得漏孔級(jí)別;無(wú)需樣品制備,無(wú)損、定量、可靠、可重復(fù)、客觀(guān);設(shè)備參與制定ASTM 真空衰減法測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),具有多個(gè)實(shí)驗(yàn)室的精密度與偏差研究數(shù)據(jù)支撐,獲得的數(shù)據(jù)更客觀(guān),可重復(fù),更可信。

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業(yè)內(nèi)現(xiàn)在常用的小瓶泄漏的檢測(cè)多采用傳統(tǒng)的西林瓶檢漏方法,主要有色水法和微生物挑戰(zhàn)法。這兩種方法存在一定的主觀(guān)性,而且是屬于定性檢測(cè),對(duì)試樣也是有破壞性的。色水法適用于產(chǎn)品灌裝小瓶的檢測(cè),多被生產(chǎn)車(chē)間用于生產(chǎn)過(guò)程中的檢測(cè);微生物挑戰(zhàn)法多用于空容器的檢測(cè),適用于驗(yàn)證過(guò)程。雖然這兩種方法已被業(yè)界使用多年,但它們的缺點(diǎn)是顯而易見(jiàn)的。彩水法的缺點(diǎn)是破壞性檢測(cè),靈敏度低,結(jié)果主觀(guān),費(fèi)時(shí)費(fèi)力,不可追溯;微生物挑戰(zhàn)法的缺點(diǎn)是:破壞性檢測(cè),費(fèi)時(shí)費(fèi)力,不可追溯,漏泄通道呈鋸齒形時(shí)漏檢率高。目前,F(xiàn)DA傾向于用物理定量方法代替?zhèn)鹘y(tǒng)的兩種方法。

美國(guó)藥典USP 1207.2提到:包裝完整性泄漏測(cè)試技術(shù)(容器密閉完整性測(cè)試技術(shù)(CCIT))將檢漏方法分類(lèi)為確定性的方法和概率性的方法,其中真空衰減法、壓力衰減法、高壓放電法和激光頂空分析方法是確定性的方法,而傳統(tǒng)的微生物侵入法和色水法是概率性的方法。現(xiàn)有的FDA等法規(guī)更傾向于采用經(jīng)驗(yàn)證的物理定量的測(cè)試方法,也就是USP 1207.2里面提到的確定性的方法。綜上所述,包材密封性測(cè)試(CCIT)儀Leak-M*符合美國(guó)藥典USP 1207.2的要求。



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