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[供應(yīng)]S系列-數(shù)字源表iv掃描miniled電性能
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  • S系列-數(shù)字源表iv掃描miniled電性能
貨物所在地:
湖北武漢市
產(chǎn)地:
武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)
更新時間:
2024-11-01 13:11:16
有效期:
2024年11月1日 -- 2025年2月1日
已獲點擊:
92
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(聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝?。?/p>

產(chǎn)品簡介

數(shù)字源表iv掃描miniled電性能認(rèn)準(zhǔn)武漢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表,普賽斯S系列數(shù)字源表優(yōu)點,四象限工作,源和負載,電壓及電流范圍廣,電流100pA~1A,電壓0.3mV~300V,準(zhǔn)確度為0.1%;5寸觸摸顯示屏圖形化操作,內(nèi)置強大的功能軟件,加速用戶完成測試;支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網(wǎng)

詳細介紹


  1. 數(shù)字源表iv掃描miniled電性能概述

    LED(全稱為Light-emitting diode)是一種能發(fā)光的半導(dǎo)體電子元件。和普通的二極管一樣,這些半導(dǎo)體材料會預(yù)先透過注入或攙雜等工藝以產(chǎn)生p、n架構(gòu)。LED只能夠往一個方向?qū)ǎㄍ姡?當(dāng)在兩端加載合適的電壓后,電流可以從p極(陽極)流向n極(陰極),而相反方向則不能。兩種不同的載流子:空穴和電子在不同的電極電壓作用下從電極流向p、n架構(gòu)。當(dāng)空穴和電子相遇而產(chǎn)生復(fù)合,電子會跌落到較低的能階,同時以光子的模式釋放出能量,即發(fā)光。經(jīng)過多年的發(fā)展,目前LED能夠發(fā)出的光已經(jīng)遍及可見光、紅外線及紫外線,光度亦提高到相當(dāng)高的程度,用途覆蓋指示燈,顯示板,照明等。

    源表,SMU(Source Measure Unit)電源/測量單元,“源"為電壓源和電流源,“表"為測量表,“源表"即指一種可作為四象限的電壓源或電流源提供精確的電壓或電流,同時可同步測量電流值或電壓值的測量儀表。源表集合電壓源、電流源、電壓表、電流表的功能于一身,廣泛用于各類精密器件的測量。

  2. 常用測試參數(shù)

    LED必須在合適的電流電壓驅(qū)動下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為I-V特性。通過LED電性的測試,可以獲得對應(yīng)正向電壓(Vf)、反向電壓(Vr)及漏電流Ir)等參數(shù),以及相應(yīng)的I-V曲線。常用的測試方法一般為在LED器件的兩端,加電壓測試電流,或者加電流測試電壓。此外,還可以根據(jù)客戶要求,搭配相應(yīng)的光學(xué)測試系統(tǒng),測試相應(yīng)的光學(xué)性能。

    典型二極管I-V特性曲線                                  

  3. LED光電測試系統(tǒng)示意圖

  4. Vf正向?qū)妷簻y試

    正向?qū)妷?,?/span>LED在正常工作電流下測量的電壓值。當(dāng)加載在LED兩端的工作電壓,低于導(dǎo)通電壓時,通過LED的電流極小,不發(fā)光。當(dāng)電壓超過該值后,通過LED的電流隨電壓迅速增加,而后LED發(fā)光。常用測試方法為,將LED的正極接在高電位端,負極接在低電位端,逐漸增加LED的電流(電流值一般為幾mA),并同時測量LED兩端的電壓(電壓值范圍在幾V以內(nèi))。而后根據(jù)實際測試需要,對數(shù)據(jù)進行分析,得到相應(yīng)的Vf值。


    Vr 反向擊穿電壓測試

    反向擊穿電壓,是所允許加載在LED兩端的最大反向電壓。當(dāng)二極管兩端的反向電壓超過Vr后,反向電流會急劇增大,二極管將失去單方向?qū)щ娞匦?,這種狀態(tài)稱為二極管的擊穿。若長時間工作電壓超過Vr,發(fā)光二極管可能被擊穿損壞。常用測試方法為,將LED的正極接在低電位端,負極接在高電位端,逐漸增加LED的電流(電流值一般為幾mA),并同時測量LED兩端的電壓(電壓值范圍在幾V以內(nèi))。而后根據(jù)實際測試需要,對數(shù)據(jù)進行分析,得到相應(yīng)的Vr值。由于源表可作為四象限工作的電壓源,因此,在測試時,無需將接線端反接。源表內(nèi)部會自動根據(jù)設(shè)定值,切換輸出端的極性。


    Ir漏電流測試

    漏電流,指LED處于反向偏置狀態(tài)時,流過二極管的微弱反向電流。此時,LED兩端的電壓低于Vr。常用的測試方法為,LED的正極接在低電位端,負極接在高電位端,而后根據(jù)實際測試需要,設(shè)定加載在LED兩端電壓,測量電流Ir。


  5. 繪制LED I-V特性曲線測試

  6. 連接

    如下圖所示,選擇合適的夾具,將LED與S型源表進行連接

    源表測試連接示意圖

  7. 測試步驟

步驟

操作方法

操作界面

選擇掃描模式

【主界面】—>【掃描模式】

設(shè)置掃描參數(shù)

根據(jù)實際測試需要,選擇并設(shè)置相應(yīng)的參數(shù)。比如:【掃描類型】,【限值】,【掃描模式】,【掃描點】等

啟動測試

點擊【開始掃描】,即可啟動測試

/

測試數(shù)據(jù)

待測試完畢后,會自動根據(jù)測試結(jié)果繪制I-V曲線,并顯示在屏幕上。此外,如果選擇保存【開始掃描】,也可在插入U盤后,導(dǎo)出測試數(shù)據(jù)



S型源表簡介

普賽斯S系列高精度源表,集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能于一體。產(chǎn)品最大輸出電壓達300V,最小測試電流達100pA,分辨率低至10pA,支持四象限工作,因此,可廣泛應(yīng)用于各種半導(dǎo)體器件I-V電特性測試,如半導(dǎo)體IC,功率半導(dǎo)體器件,傳感器,LED等。產(chǎn)品具有如下特點:

  • 采用5寸800*480觸摸顯示屏,全圖形化操作,操作簡單方便

  • 內(nèi)置豐富的掃描模式,支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

  • 四象限工作模式,可在源模式或肼模式下工作

  • 支持USB存儲,一鍵導(dǎo)出測試報告

  • 兼容多種上位機通訊方式,RS-232、GPIB及以太網(wǎng)

  • 可搭配普賽斯自主開發(fā)的上位機軟件使用,快速實現(xiàn)不同器件的測試


以上是關(guān)于數(shù)字源表iv掃描miniled電性能的方案介紹,更多有關(guān)數(shù)字源表iv掃描miniled電性能信息找普賽斯儀表專員為您介紹


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