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工業(yè)CT的檢測(cè)和研發(fā)應(yīng)用在哪些方面?

閱讀:1830        發(fā)布時(shí)間:2020/12/15
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     工業(yè)CT系統(tǒng)釆用輻射成像原理,實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品的非接觸式三維高精度掃描成像,可獲得產(chǎn)品內(nèi)部高精度的三維斷層數(shù)據(jù)和材料信息,它系統(tǒng)集現(xiàn)代化射線檢測(cè)技術(shù)自動(dòng)化控制技術(shù)和計(jì)算機(jī)處理技術(shù)于一身。工業(yè)CT是在射線檢測(cè)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的,其基本原理是當(dāng)經(jīng)過準(zhǔn)直且能量為I0的射線束穿過被檢物時(shí),根據(jù)各個(gè)透射方向上各體積元的衰減系數(shù)μi不同,探測(cè)器接收到的透射能量I也不同。按照一定的圖像重建算法,即可獲得被檢工件截面一薄層無影像重疊的斷層掃描圖像,重復(fù)上述過程又可獲得一個(gè)新的斷層圖像,當(dāng)測(cè)得足夠多的二維斷層圖像就可重建出三維圖像。
  如今,我們利用工業(yè)CT技術(shù),可以進(jìn)行諸多檢測(cè)和研發(fā)工作,以下舉常見的一些應(yīng)用供大家參考:
  1、缺陷檢測(cè):
  對(duì)工件的CT掃描斷層圖或三維圖像進(jìn)行分析,能夠快速、準(zhǔn)確、直觀的檢測(cè)到產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷(缺陷類型、位置、尺寸等)。如裂紋、氣孔、疏松、夾雜等缺陷,檢測(cè)精度可達(dá)1um。
  通過對(duì)缺陷的檢測(cè)和分析,可以改善鑄造模具結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、工藝參數(shù)以及原料成分等;可以提高焊接性能、改善焊接工藝;還可以幫助找到失效原因供失效改進(jìn)。
  2、孔隙率分析
  依據(jù)VDGP201/P202的測(cè)試要求,對(duì)鑄件(壓鑄、注塑等)的內(nèi)部截面孔隙率進(jìn)行分析,主要指標(biāo)有孔隙占比、孔隙長(zhǎng)度、孔隙個(gè)數(shù)、聚集孔隙、粗大氣孔群等,用以評(píng)估內(nèi)部孔隙對(duì)于整個(gè)零件的危害程度是否滿足圖紙要求。
  CT檢測(cè)孔隙率分析由于其非破壞性不僅可以替代常規(guī)的金相測(cè)試法,還可以幫助客戶滿足產(chǎn)品的前期設(shè)計(jì)開發(fā)階段、中期檢驗(yàn)?zāi)>叩某善仿室约伴L(zhǎng)期的質(zhì)量控制的要求。
  3、裝配分析
  使用工業(yè)CT可以不用拆卸,直觀了解產(chǎn)品的二維與三維局部整體、透視或截面分析圖,高效準(zhǔn)確地呈現(xiàn)裝配件內(nèi)部組成及其裝配關(guān)系,便于視覺直觀分析個(gè)部件內(nèi)部結(jié)構(gòu)以及裝配間隙公差等。
  對(duì)于復(fù)雜結(jié)構(gòu)配件,一次CT掃描可以完成DR初檢、任意切片檢查、三維內(nèi)部結(jié)構(gòu)重現(xiàn)等,大限度確保檢測(cè)結(jié)果的可靠性。
  CT檢測(cè)能在保證樣品完整性的前提下,可以用于評(píng)估裝配工藝、找出裝配問題、協(xié)助樣品失效的分析以及輔助研發(fā)設(shè)計(jì)等。
  4、尺寸測(cè)量
  因物體型面復(fù)雜或客觀物理?xiàng)l件限制等原因會(huì)出現(xiàn)無法獲取的情況,CT技術(shù)能很好地應(yīng)對(duì)此類問題。區(qū)別于傳統(tǒng)的三坐標(biāo)檢測(cè)、影像儀等測(cè)量方法,CT尺寸測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)在于產(chǎn)品的內(nèi)部尺寸檢測(cè)。它可以在不破壞樣品的前提下,對(duì)于工件的所有尺寸進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量,精度高、速度快。
  5、數(shù)模比對(duì)
  通過工業(yè)CT及分析軟件(VG)可以將CT數(shù)據(jù)與CAD數(shù)?;蛘逤T數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合,以直觀的顏色編碼對(duì)分析的結(jié)果進(jìn)行可視化,不僅可以得到工件整體的偏差,還能得到感興趣區(qū)域的具體偏差值。并且可用各種參數(shù)規(guī)定公差,例如偏差(大、小、累積偏差)
  對(duì)于物體型面復(fù)雜、內(nèi)腔結(jié)構(gòu)限制或者材料原因出現(xiàn)無法提取到內(nèi)部數(shù)據(jù)信息的光學(xué)掃描方法,CT檢測(cè)的優(yōu)勢(shì)在于可以對(duì)內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)的進(jìn)行比對(duì),且不太受材料吸光性等原因的影響。

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