隨著科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步和發(fā)展，在國民經(jīng)濟(jì)的許多部門，如能源、動(dòng)力、機(jī)械、醫(yī)藥、化工、輕工、冶金、建材等行業(yè)中都出現(xiàn)了越來越多的細(xì)微顆粒密切相關(guān)的技術(shù)問題有待解決，顆粒粒徑大小的測(cè)量是其中最基本也是最重要的一個(gè)方面。許多情況下，顆粒粒徑大小不僅直接影響到產(chǎn)品的性能與質(zhì)量，而且對(duì)工藝過程的優(yōu)化、能源消耗的降低、環(huán)境污染的減少等都有重大的關(guān)聯(lián)。 近年來，與、國防工業(yè)、軍事科學(xué)等密切相關(guān)的各種新型顆粒材料，特別是超細(xì)納米顆粒的問世和利用，給顆粒粒徑的測(cè)量提出了新的和更高的要求，不但要求快速、自動(dòng)化數(shù)據(jù)處理、而且也要求提供可靠的更豐富的數(shù)據(jù)和更有用的信息，以滿足科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制方面應(yīng)用的需要。TS-W系列激光粒度分析儀正是為了滿足用戶上述新要求而精心研制開發(fā)的最新一代激光粒度分析儀。該儀器集*激光技術(shù)、半導(dǎo)體技術(shù)、光電技術(shù)、微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的應(yīng)用，綜合了光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)于一體，以光散射理論為基礎(chǔ)的顆粒粒徑測(cè)量技術(shù)突出的優(yōu)點(diǎn)逐步取代了一些傳統(tǒng)的常規(guī)測(cè)量方法，必將成為一代新穎的顆粒粒徑測(cè)量?jī)x器。并且在科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制的粒度分布分析中發(fā)揮著越來越大的作用。

DRK-W系列激光粒度分析儀的高品質(zhì)和所測(cè)樣品的廣泛性使得它在實(shí)驗(yàn)室的實(shí)驗(yàn)研究和工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用。例如：材料、化工、制藥、精細(xì)陶瓷、建材、石油、電力、冶金、食品、化妝品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高嶺土、氧化物、碳酸鹽、金屬粉末、耐火材料、添加劑等以顆粒物作為生產(chǎn)原材料、產(chǎn)品、中間體等。

技術(shù)特點(diǎn):

1.DU特的半導(dǎo)體制冷恒溫控制綠色固體激光器做光源，波長(zhǎng)短、體積小、工作穩(wěn)定、壽命長(zhǎng)；

2.DU特設(shè)計(jì)大直徑光靶，保證測(cè)量范圍大，0.1-1000微米全測(cè)量范圍內(nèi)不需要更換鏡頭或移動(dòng)樣品池；

3.集多年研究之成果，米氏理論的WAN美應(yīng)用；

4.DU特反演算法，保證顆粒測(cè)量的準(zhǔn)確；

5.USB接口，儀器與計(jì)算機(jī)一體化，內(nèi)嵌10.8寸工業(yè)級(jí)別的電腦，可連接鍵盤、鼠標(biāo)、U盤

6.測(cè)量時(shí)循環(huán)樣品池或固定樣品池可選，兩者可根據(jù)需要換用；

7.樣品池模塊化設(shè)計(jì)，更換模塊可實(shí)現(xiàn)不同的測(cè)試模式；循環(huán)樣品池內(nèi)置超聲分散裝置，可有效分散團(tuán)聚顆粒

8.樣品測(cè)量可DU全自動(dòng)化，除添加樣品外，只要連接好蒸餾水進(jìn)水管和排水管，進(jìn)水、測(cè)量、排水、清洗，啟動(dòng)超聲分散裝置等操作可WAN全自動(dòng)進(jìn)行，同時(shí)也提供手動(dòng)測(cè)量菜單；

9.軟件個(gè)性化，提供測(cè)量向?qū)У缺姸喙δ?，方便用戶操作?/span>

10.測(cè)量結(jié)果輸出數(shù)據(jù)豐富，保存在數(shù)據(jù)庫中，能用任意參數(shù)，如操作者姓名，樣品名，日期，時(shí)間等進(jìn)行調(diào)用分析，與其他軟件實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)共享；

11.儀器造型美觀，體積小重量輕；

12.測(cè)量精度高，重復(fù)性好，測(cè)量時(shí)間短；

13.軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶選擇，滿足用戶查找被測(cè)顆粒折射率要求；

14.考慮到測(cè)試結(jié)果的保密要求，只有授權(quán)操作者才能進(jìn)入相應(yīng)數(shù)據(jù)庫讀取數(shù)據(jù)和處理；

15.本儀器符合但并不局限于以下標(biāo)準(zhǔn)：

ISO 13320-2009     G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法