ISO4593-1993 機(jī)械掃描法薄膜薄片厚度儀

DRK203 ISO4593-1993 機(jī)械掃描法薄膜薄片厚度儀，設(shè)備結(jié)構(gòu)科學(xué)合理，使用安全可靠，依據(jù)GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的測(cè)定—機(jī)械測(cè)量法》和ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用機(jī)械掃描法測(cè)定厚度》等標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)制造。

DRK203 ISO4593-1993 機(jī)械掃描法薄膜薄片厚度儀，設(shè)備結(jié)構(gòu)科學(xué)合理，使用安全可靠，依據(jù)GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的測(cè)定—機(jī)械測(cè)量法》和ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用機(jī)械掃描法測(cè)定厚度》等標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)制造。

DRK203 ISO4593-1993 機(jī)械掃描法薄膜薄片厚度儀，設(shè)備是用機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片厚度的儀器，但不是適用于壓花的薄膜和薄片。主要用于塑料薄膜、薄片、紙張、紙板的厚度測(cè)試，還可擴(kuò)展用于箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試。

DRK203 GB/T6672-2001 機(jī)械掃描法薄膜薄片厚度儀， 技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量范圍：0~1mm

分度值：0.001mm

測(cè)頭端部的力：

（1）上測(cè)頭的測(cè)量面為￠6mm平面，下測(cè)頭為平面時(shí)，測(cè)頭對(duì)試樣施加的力為0.5~1.0N；

（2）上測(cè)量面為（R15—R50）mm曲率半徑，下測(cè)頭為平面時(shí)，測(cè)頭對(duì)試樣施加的力為0.1~0.5N；

注:因技術(shù)進(jìn)步更改資料,恕不另行通知,產(chǎn)品以后期實(shí)物為準(zhǔn)。

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