真空衰減法無(wú)損檢測(cè)微泄露密封性測(cè)試儀

DRK 真空衰減法無(wú)損檢測(cè)微泄露密封性測(cè)試儀，符合FASTM F2338-09標(biāo)準(zhǔn)和USP40-1207法規(guī)要求，基于雙傳感器技術(shù)，雙循環(huán)系統(tǒng)的真空衰減原理將微泄漏密封測(cè)試儀主機(jī)連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來(lái)容納需要被測(cè)試包裝物的測(cè)試腔內(nèi)，對(duì)測(cè)試腔進(jìn)行抽真空，包裝物內(nèi)外形成壓力差，在壓力的作用下包裝物內(nèi)氣體通過(guò)漏孔擴(kuò)散至測(cè)試腔內(nèi)，雙傳感器技術(shù)檢測(cè)時(shí)間和壓力的變化關(guān)系，與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較判斷試樣是否泄漏。

DRK 真空衰減法無(wú)損檢測(cè)微泄露密封性測(cè)試儀，符合FASTM F2338-09標(biāo)準(zhǔn)和USP40-1207法規(guī)要求，基于雙傳感器技術(shù)，雙循環(huán)系統(tǒng)的真空衰減原理將微泄漏密封測(cè)試儀主機(jī)連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來(lái)容納需要被測(cè)試包裝物的測(cè)試腔內(nèi)，對(duì)測(cè)試腔進(jìn)行抽真空，包裝物內(nèi)外形成壓力差，在壓力的作用下包裝物內(nèi)氣體通過(guò)漏孔擴(kuò)散至測(cè)試腔內(nèi)，雙傳感器技術(shù)檢測(cè)時(shí)間和壓力的變化關(guān)系，與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較判斷試樣是否泄漏。

DRK 真空衰減法無(wú)損檢測(cè)微泄露密封性測(cè)試儀，產(chǎn)品優(yōu)缺點(diǎn)：

1.測(cè)試便捷快速

2.可溯源

3.可重復(fù)

4.無(wú)損檢測(cè)

5.人為因素小

6.靈敏度高

7.定量測(cè)試

8.更易檢測(cè)更小和泄露點(diǎn)曲折漏孔

9.儀器成本高，精度高

10.zui有效、最直觀、高效的檢漏法，樣品經(jīng)過(guò)檢驗(yàn)后并不會(huì)受到污染，可正常使用。

DRK 真空衰減法微泄露密封性測(cè)試儀，產(chǎn)品參數(shù)：

項(xiàng)目 參數(shù)

真空度 0--100kPa

檢測(cè)靈敏度 1-3um

測(cè)試時(shí)間 30s

設(shè)備操作 自帶HM1

內(nèi)部壓力 常壓

測(cè)試系統(tǒng) 雙傳感器技術(shù)

真空來(lái)源 外接真空泵

測(cè)試腔 根據(jù)樣品定做

適用產(chǎn)品 西林瓶、安瓿瓶、預(yù)灌封(及其他合適樣品)

檢測(cè)原理 真空衰減法/無(wú)損檢測(cè)

主機(jī)尺寸 550mmx330mm320mm(長(zhǎng)寬高)

重量 20 Kg

環(huán)境溫度 20℃-30℃

注:因技術(shù)進(jìn)步更改資料,恕不另行通知,產(chǎn)品以后期實(shí)物為準(zhǔn)。