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國儀量子掃描電鏡SEM3100在金屬材料失效分析領(lǐng)域的應(yīng)用

閱讀:2951      發(fā)布時間:2022-03-10
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失效分析是近些年由軍工企業(yè)向科研學(xué)者及企業(yè)所普及的一門新學(xué)科[3],金屬零部件失效輕則會導(dǎo)致工件性能退化,重則會導(dǎo)致人生安全事故,通過失效分析定位失效原因,提出有效改進(jìn)措施是保證工程安全運行不可少的一步,因此,充分利用掃描電鏡的優(yōu)勢將為金屬材料行業(yè)的進(jìn)步做出巨大貢獻(xiàn)。

 

掃描電鏡作為一種顯微分析工具,可以對金屬材料進(jìn)行多種形式的觀察,可以對各類缺陷進(jìn)行詳細(xì)的分析、金屬材料失效的原因進(jìn)行綜合定位分析,隨著掃描電鏡功能的不斷完善和提升,掃描電鏡能夠完成的工作也越來越多,不僅為改善材料性能的研究提供了可靠依據(jù),同時也在生產(chǎn)工藝控制、新產(chǎn)品設(shè)計和研究等方面發(fā)揮了重要作用。

 

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國儀量子技術(shù)(合肥)股份有限公司

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