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SEM2000是一款基礎(chǔ)款的多功能分析性鎢燈絲掃描電鏡。20?kV分辨率可以做到3.9?nm，支持升級(jí)30?kV電壓，可觀察亞微級(jí)尺度樣品的微觀結(jié)構(gòu)信息。擁有比臺(tái)式電鏡更大的移動(dòng)范圍，適用于快速篩選待測(cè)樣品，更多的擴(kuò)展接口，可搭載BSED、EDS等附件，使應(yīng)用領(lǐng)域更廣。
純中文的操作界面
功能設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單易操作。符合國人使用習(xí)慣，即使是新手用戶，簡(jiǎn)單了解后也能快速上手。
完善的自動(dòng)化功能
自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)像散，均可一鍵調(diào)節(jié)，提高工作效率。
豐富的測(cè)量工具
長度、面積、圓度、角度等測(cè)量功能強(qiáng)大的照片管理和預(yù)覽、編輯功能。
特色功能
光學(xué)導(dǎo)航
想看哪里點(diǎn)哪里，導(dǎo)航更輕松
標(biāo)配光學(xué)導(dǎo)航攝像頭，可拍攝高清樣品臺(tái)照片，快速定位樣品。
防撞設(shè)計(jì)
對(duì)新手更友好的防碰撞設(shè)計(jì)，最大限度保護(hù)敏感單元。
一鍵成像
*軟件一鍵成像，新手也能輕松駕馭。
分析距離
最佳分析距離和成像距離二合一，輕松體驗(yàn)優(yōu)質(zhì)性能。
SEM2000軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像。可同時(shí)觀察到樣品的形貌信息和成分信息。
SE：3.9 nm @20 kV
BSE：4.5 nm @ 20 kV
豐富的擴(kuò)展性
高靈敏度背散射探測(cè)器
· 多通道成像
探測(cè)器設(shè)計(jì)精巧，靈敏度高，采用4分割設(shè)計(jì)，無需傾斜樣品，可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。
四個(gè)單通道的陰影像
成分像
二次電子成像和背散射電子成像對(duì)比
背散射電子成像模式下，荷電效應(yīng)明顯減弱，并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。
能譜
金屬夾雜物能譜面掃分析結(jié)果。
電子背散射衍射
鎢燈絲電鏡束流大，滿足高分辨EBSD的測(cè)試需求，能夠?qū)饘佟⑻沾?、礦物等多晶材料進(jìn)行晶體取向標(biāo)定以及晶粒度大小等分析。 該圖為Ni金屬標(biāo)樣的EBSD反極圖，能夠識(shí)別晶粒大小和取向，判斷晶界和孿晶，對(duì)材料組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確判斷。
應(yīng)用案例
國儀量子國產(chǎn)鎢燈絲掃描電子顯微鏡助力更好的科研工作生活！