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Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀
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  • Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀

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貨物所在地: 北京北京市
產(chǎn)地: 德國werth
更新時(shí)間: 2024-10-19 18:16:34
期: 2024年10月19日--2025年4月20日
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產(chǎn)品簡介

Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀適于工廠高速柵格二維掃描測量平面類零件,如線路板、手機(jī)外殼、模板等。封閉式結(jié)構(gòu),平面光源位于頂部機(jī)蓋,CCD變焦系統(tǒng)位于機(jī)器底部,快速聚焦于大玻璃工作臺(tái)表面,可同時(shí)測量位于工作臺(tái)表面各種不同類型零件。

詳細(xì)介紹

Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀適于工廠高速柵格二維掃描測量平面類零件,如線路板、手機(jī)外殼、模板等。封閉式結(jié)構(gòu),平面光源位于頂部機(jī)蓋,CCD變焦系統(tǒng)位于機(jī)器底部,快速聚焦于大玻璃工作臺(tái)表面,可同時(shí)測量位于工作臺(tái)表面各種不同類型零件。

Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀,在鋁型材行業(yè)有著廣泛的應(yīng)用,世界鋁型材企業(yè)都在使用。

作為測量儀器,是當(dāng)今世界上測量二維工件zui精確的二維掃描儀(申請(qǐng)中).


主要特點(diǎn):
高速的矩陣式掃描系統(tǒng),適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的二維測量
工業(yè)圖像處理系統(tǒng),掃描規(guī)則的幾何元素及自由輪廓
被測工件可任意位置放置
模塊化的測量軟件
利用投射光和透射光進(jìn)行工件掃描
快捷方便的WinWerth評(píng)估軟件
WinWerth軟件CAD在線和*公差擬合測量
平面光源
精度采用高標(biāo)準(zhǔn)雙邊標(biāo)定

 

技術(shù)參數(shù):
測量范圍(玻璃工作臺(tái) 尺寸):
X = 400/650mm
Y = 200/400/600mm
zui大工件高度:Z = 100mm
光柵尺分辨率:0.1µm

測量機(jī)zui大允許誤差:

變焦:
1)E1: (2.5+L/120) µm
 E2: (2.9+L/100) µm

固定鏡頭 0.4x:
2)E1: (4.9+L/100) µm
 E2: (4.9+L/75) µm

固定鏡頭 0.2x:
2)E1: (9+L/100) µm
 E2: (9+L/75) µm

1)20℃±2o Δ=1o/h  5X鏡頭  2)20℃±2度 Δ=1度/h
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn) ISO 10360 和 VDI/VDE 2617

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