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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
智能雙通道數(shù)字式局部放電檢測儀
特點:
●采用高速大容量數(shù)據(jù)采集卡,能進(jìn)行連續(xù)采集局放數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性好,準(zhǔn)確度高。
●具有測試、分析(多參數(shù)分析、二維圖譜分析、三維圖譜分析)、數(shù)據(jù)保存、報告生成及打印等功能
●能同時顯示局部放電波形(橢圓、正鉉波、直線三種方式)、局放量和測試電壓。
●在校正和測試過程中自動調(diào)節(jié)增益而不需要人為干預(yù),操做簡便。
●可適應(yīng)工頻(50Hz)。三倍頻(150Hz)和zui高至400Hz的電源。
●開門開窗可任意設(shè)置zui小可至1度。
●可單通道也可四個通道進(jìn)行測量。
體積小,重量輕。既適合于電力部門和制造廠車間等現(xiàn)場使用,也適合于科學(xué)研究試驗。
性能特點:
1.局部放電檢測儀具有檢測靈敏度高,適用試品范圍廣,信噪比高等特點。
2.采用大屏幕示波管,試驗波形顯示清晰,有高頻橢圓掃描(攝取功率小于1伏安),放大系統(tǒng)動態(tài)范圍大,頻帶組合多(九種),有輔助零標(biāo)系統(tǒng),有線性、對數(shù)雙功能指針式表頭和數(shù)字式表頭,可同時顯示放電脈沖的放電量。
3.TE-PD400數(shù)字式局部放電檢測儀是研究、開發(fā)新型高電壓電工產(chǎn)品和提高產(chǎn)品質(zhì)量的有力輔助工具,也是現(xiàn)場判斷設(shè)備正常與否的有效測試儀器。
4.局部放電檢測儀校正脈沖發(fā)生器配合使用,尤其適合電力部門、生產(chǎn)制造廠家和科研單位。
智能雙通道數(shù)字式局部放電檢測儀
技術(shù)參數(shù):
1.可測試品的電容范圍:6pF~250uF
2.檢測靈敏度及允許電流(見表1)。
3.橢圓掃描時基
(1) 頻率:50、100、150、200、400Hz
(2) 旋轉(zhuǎn):以30度為一檔,可旋轉(zhuǎn)120度。
(3) 工作方式:標(biāo)準(zhǔn)-擴(kuò)展-直線。
(4) 高頻時基橢圓的輸入電壓范圍:13~275V。
4.顯示單元
采用100×80mm矩形示波管,有亮度與聚焦調(diào)節(jié)旋鈕。
5.放大器
(1) 3dB低頻端頻fL:20、40KHz任選。
(2) 3dB高頻端頻率fH:200、300KHz任選。
(3) 增益調(diào)節(jié):粗調(diào)6檔,檔間增益差10倍±5%。
(4) 細(xì)調(diào)范圍:>10倍。
(5) 正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對稱性:<5%。
6.時間窗
(1) 窗寬:5度~150度(50Hz) 連續(xù)可調(diào)。
(2) 窗位置:每一窗可旋轉(zhuǎn)0度~170度。
(3) 兩個時間窗可分別或同時控制。
7、脈沖峰值表
(1) 線性指示:0~10*不大于5%。
對數(shù)指示:1~10*不大于5%。
8、具有輔助識別放電脈沖相位的零標(biāo)志系統(tǒng)。
9、工作電源 220V±10% 工頻
10、體積:440×430×180mm
11、重量:約15Kg
注意事項:
1. 在試驗開始加壓以前,試驗人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路,以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接,若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時掐頭去尾線被腳踢斷,這將可能引起人身和設(shè)備事故。
2.對于連接線應(yīng)避免將*暴露在外,防止*電暈放電,尤其對于電壓等級較高的局部放電試驗,必要時要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩,減小因場強(qiáng)過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3. 一般情況下,在試驗過程中,被試品在耐壓、預(yù)升壓時局部放電量都比正常值大很多,此時儀器的儀表必然會超出滿刻度。為防止儀器損壞,應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測量電壓時,再將增益粗調(diào)開關(guān)順時針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以便記錄測量值。
4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后,一定要從高壓端脫離,并關(guān)閉電源開關(guān),且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍,且檔位有指示,故升壓后根據(jù)放電量大小,可選擇合適量程。逆時針旋轉(zhuǎn)時,每降一檔量程擴(kuò)大十倍;反之,順時針時,量程縮小十倍。
5. 試驗完畢后,應(yīng)對整個測試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正,驗證是否與試驗前所校正出的刻度系數(shù)相等,以免測試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗過程中發(fā)生故障而使測試結(jié)果不對。