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VIEEW-美國ATLAS數(shù)碼圖像分析儀
  • VIEEW-美國ATLAS數(shù)碼圖像分析儀
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貨物所在地:國外

地: 英國錫萊亞太拉斯

更新時間:2024-09-19 21:00:05

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采用的計算機(jī)輔助光學(xué)技術(shù),VIEEW可以捕捉、存儲、處理試樣圖像并根據(jù)及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)對測試結(jié)果進(jìn)行分類。它廣泛應(yīng)用于油漆及涂層的表面評估.

數(shù)碼圖像分析儀 

型號: 標(biāo)準(zhǔn)
制造商: 亞太拉斯
應(yīng)用: 采用的計算機(jī)輔助光學(xué)技術(shù),VIEEW可以捕捉、存儲、處理試樣圖像并根據(jù)及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)對測試結(jié)果進(jìn)行分類。它廣泛應(yīng)用于油漆及涂層的表面評估.
特點: 高度的重現(xiàn)性
隨用戶需求增加而擴(kuò)展的能力
標(biāo)準(zhǔn)直射與反射照明系統(tǒng)
相關(guān)參數(shù): 尺寸:640 x 340 x 280mm
重量:28kg
黑白CCD攝影機(jī)(752 x 568像素)配有高度消色透鏡
VIEEW軟件包括VIEEW控制模塊VIEEW圖象捕捉模塊、VIEEW Basics a4i分析存檔軟件、a4i文件、a4i Word報告
計算機(jī)系統(tǒng)包括19英寸顯示器Windows? OS鍵盤、鼠標(biāo)、網(wǎng)絡(luò)適配器CD-R記錄器
電源要求: 100-250V,50/60Hz
符合標(biāo)準(zhǔn): ASTM D 1654 A、B, DIN 55996-1, EN DIN 55994-2、草擬55994-3,
EN ISO 9022-9草擬21227-2、草擬12097-3, SAE J400
其它: 可選配件:
VIEEW軟件模塊包括碎屑分析腐蝕分析灰度/質(zhì)地分析分子分析a4i互動測量a4i ProCollage圖象制表工具
VIEEW軟件圖象存檔與分析的其它證書(網(wǎng)絡(luò)解決方案)
校準(zhǔn)設(shè)置(幾何范圍)
校準(zhǔn)設(shè)置(幾何范圍,附有證書)
全自動X/Y試樣臺150 x 220毫米掃描區(qū)230伏或110伏
打印機(jī)
工作表,包括電纜線和計算機(jī)架

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