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Polytec ——光學測量技術專家簡介

2025-3-24  閱讀(91)

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Polytec GmbH 成立于1967年,總部位于德國卡爾斯魯厄(后遷至瓦爾德布?。?,是一家專注于光學測量技術研發(fā)與生產(chǎn)的優(yōu)秀企業(yè)。公司以激光測振技術為核心,同時覆蓋表面計量、近紅外光譜分析、機器視覺及過程分析等領域,致力于為工業(yè)、科研及制造提供高精度、非接觸式測量解決方案。其產(chǎn)品以高分辨率、模塊化設計及環(huán)境適應性著稱,廣泛應用于汽車、航空航天、半導體、生物醫(yī)療、農(nóng)業(yè)和能源等行業(yè)。

核心業(yè)務領域

1.激光測振技術

提供非接觸式激光測振儀,用于振動、位移、速度等參數(shù)的精確測量,支持從微觀器件到大型結構的全場景分析。

技術優(yōu)勢:亞皮米級分辨率、高達25 MHz的帶寬、三維振動模態(tài)分析能力。

2.光學表面計量

開發(fā)白光干涉儀(如TopMap系列),用于納米級表面形貌測量,包括平面度、臺階高度、粗糙度等參數(shù),適配精密制造和半導體檢測。

3.近紅外光譜分析(NIR)

推出在線近紅外光譜儀(如PSS和PAS系列),實現(xiàn)實時無損檢測,應用于農(nóng)業(yè)、食品、制藥等領域的成分分析(如水分、蛋白質、脂肪含量)。

4.機器視覺與過程分析

集成光學傳感器和智能算法,支持工業(yè)自動化場景的實時監(jiān)控與質量控制。

主要產(chǎn)品線

1.激光測振儀系列

全場掃描式測振儀(如PSV-500):支持三維模態(tài)分析(3D模式),用于汽車零部件、航空發(fā)動機等復雜結構的振動特性研究。

顯微式測振儀(如MSA-600):專為MEMS器件設計,分辨率達亞皮米級,適用于微機電傳感器、壓力薄膜等微觀場景。

便攜式測振儀(如VibroGo):輕量化設計,適合現(xiàn)場快速檢測,如橋梁、建筑結構的健康監(jiān)測。

2.近紅外光譜儀系列

PAS 1720/1750:模塊化設計,覆蓋850-1650 nm波段,適用于農(nóng)業(yè)谷物、食品加工等在線成分分析。

PAS 2120:擴展至2100 nm波段,支持更高精度的化學過程監(jiān)控,如制藥原料的實時質量控制。

3.光學表面計量系統(tǒng)

TopMap Pro.Surf:大范圍表面形貌測量(44×33 mm2),集成粗糙度檢測功能,用于精密制造和半導體晶圓檢測。

TopMap Micro.View:臺式設備,分辨率達納米級,適配實驗室和小型生產(chǎn)環(huán)境。

4.工業(yè)自動化解決方案

RoboVib®測試中心:結合工業(yè)機器人實現(xiàn)全自動振動測試,提升汽車、航空航天領域的大規(guī)模檢測效率。

技術優(yōu)勢與行業(yè)應用

高精度與可靠性:是能提供三維振動模態(tài)分析的供應商。

環(huán)境適應性:支持惡劣工業(yè)環(huán)境(如高溫、強電磁干擾),部分設備通過ATEX防爆認證。

智能化集成:近紅外光譜儀可無縫對接DCS/LIMS系統(tǒng),實現(xiàn)數(shù)據(jù)實時傳輸與工藝優(yōu)化。

典型應用場景:

汽車行業(yè):發(fā)動機臺架測試、車身NVH性能優(yōu)化。

半導體制造:晶圓表面缺陷檢測、MEMS器件動態(tài)特性分析。

精準農(nóng)業(yè):谷物成分實時監(jiān)測、土壤養(yǎng)分分析。


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