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松下 Panasonic測量和測量系統(tǒng)的優(yōu)勢

時(shí)間:2025-6-16閱讀:125

松下測量和測量系統(tǒng)的優(yōu)勢

高標(biāo)準(zhǔn)的三維測量機(jī)UA3P可以適應(yīng)許多領(lǐng)域。

超高精度測量(實(shí)現(xiàn)單納米可重復(fù)性)

使用接觸測量(旋轉(zhuǎn)對稱的非球面和自由形式表面)的絕對形狀評估

復(fù)雜形狀的靈活的NC路徑

從測量數(shù)據(jù)(例如Zerinike Anallys)中實(shí)現(xiàn)各種分析

還可以評估表面和外部形狀之間的偏心率(例如,非球面,自由形式的表面,晶圓鏡片)

即使在復(fù)雜的形狀中也可以測量表面粗糙度

可以在沒有設(shè)計(jì)公式的情況下進(jìn)行測量和評估

使用CAD數(shù)據(jù)評估

通過自動測量進(jìn)行工作水平和勞動節(jié)省

松下測量和測量系統(tǒng)的功能

松下 Panasonic測量和測量系統(tǒng)協(xié)調(diào)測量技術(shù)

測量機(jī)的坐標(biāo)系由獨(dú)立于階段的三個(gè)參考平面(鏡子)組成,每個(gè)XYZ軸都使用激光干涉儀,使用頻率穩(wěn)定的HE-NE激光作為光源來測量0.3 nm的分辨率。這降低了舞臺的平方和直率的影響,從而實(shí)現(xiàn)了高精度的測量。

坐標(biāo)軸引起的測量誤差:在0.05μm內(nèi)(高達(dá)100毫米),在0.3μm以內(nèi)(高達(dá)500 mm

協(xié)調(diào)測量技術(shù)

測量探針

通過超低測量力,可以對測量物體進(jìn)行高精度掃描測量。

手寫筆由微型空氣滑塊持有,焦點(diǎn)激光器檢測出手寫筆的運(yùn)動,并根據(jù)測量對象的形狀遵循AFP的位置,以使測量力是恒定的。

測量力:0.15-0.30 MN15-30 mgf*UA3P-3100/40000.05-0.30 MNUA3P-5000H0.10-0.30 MN

手寫筆:角度30度,r =2μm鉆石手寫筆可以使用

測量探針

核心軟件技術(shù)

通過簡單操作實(shí)現(xiàn)高精度測量。它可以處理任何設(shè)計(jì)信息,并且可以通過以三維方式糾正測量對象的安裝錯(cuò)誤來進(jìn)行準(zhǔn)確的形狀測量。

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