首頁(yè) >> 公司動(dòng)態(tài) >> 網(wǎng)絡(luò)講堂報(bào)名中| High sensitivity Silicon QC using FT-IR Spectroscopy
在許多應(yīng)用領(lǐng)域，如可再生能源（光伏或氫氣技術(shù)）、航空航天和電子領(lǐng)域，半導(dǎo)體（尤其是硅）是不可少的基礎(chǔ)材料。為了保證高效率和產(chǎn)品質(zhì)量，以雜質(zhì)的識(shí)別和定量、缺陷的檢測(cè)或光學(xué)器件的功能測(cè)試為形式的硅質(zhì)量控制成為半導(dǎo)體工業(yè)中一項(xiàng)關(guān)鍵而艱巨的任務(wù)。
在免費(fèi)的兩部分網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)中，我們將向您介紹使用傅立葉變換紅外光譜進(jìn)行半導(dǎo)體質(zhì)量控制的高靈敏度解決方案，歡迎屆時(shí)參加。
主題：
High sensitivity Silicon QC using FT-IR Spectroscopy
語(yǔ)言：英文（English）
時(shí)間：
| 第一部分 | 6月14日(周一) 晚上10點(diǎn)-11點(diǎn) |
| 第一部分（重播） | 6月15日(周二)下午3點(diǎn)-4點(diǎn) |
| 第二部分 | 6月21日(周一) 晚上10點(diǎn)-11點(diǎn) |
| 第二部分（重播） | 6月22日(周二)下午3點(diǎn)-4點(diǎn) |
（以上為北京時(shí)間）
報(bào)名方式：
點(diǎn)擊此處進(jìn)入報(bào)名頁(yè)面，填寫報(bào)名信息，并點(diǎn)擊“Register”提交。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
6
立即詢價(jià)
您提交后，專屬客服將第一時(shí)間為您服務(wù)