對于半導體QC來說，F(xiàn)T-IR光譜作為一種簡單而有效的工具從眾多手段中脫穎而出。布魯克生產(chǎn)的FT-IR譜儀可提供各種產(chǎn)品組合，用以幫助在開發(fā)和過程控制方面進行創(chuàng)新。

講堂主題：布魯克FTIR在硅產(chǎn)品質(zhì)控領(lǐng)域的系列方案

開播時間：7月28日（周三）15:30準時開播

演講人：布魯克光譜德國應(yīng)用專家 吳丹博士

在此次舉行的免費網(wǎng)絡(luò)研討會中，我們將向您介紹布魯克使用FT-IR光譜進行半導體質(zhì)量控制的高靈敏度解決方案，敬請關(guān)注！

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