圖1 ENIG 鍍層黑盤發(fā)生區(qū)Ni表面及縱向腐蝕特征
圖2 ENIG 鍍層黑盤發(fā)生區(qū)界面化合物形貌
圖3 ENIG鍍層黑盤發(fā)生區(qū)斷裂界面泥裂形貌及成分分布
圖4 ENIG 化學(xué)鎳金鍍層表面微觀形貌圖
除此之外,利用賽默飛超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Apreo2鏡筒內(nèi)完善的“三位一體式”探測(cè)器系統(tǒng),可以在不同的探測(cè)器下獲得更多的樣品表面信息,如下圖5。
圖5 T2探測(cè)器下的鍍層表面
參考資料:
1.李伏,李斌.化鎳浸金工藝之黑盤特征、測(cè)試方法介紹及判定標(biāo)準(zhǔn)建議.
2.史建衛(wèi). PCB 化學(xué)鎳金鍍層(ENIG)常見問題及抑制措施.
3.https://mp.weixin.qq.com/s/A6mNbLZhNJ10jQCFmb-K1A.
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