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高性能場發(fā)射掃描電鏡
  • 高性能場發(fā)射掃描電鏡
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貨物所在地:北京北京市

更新時間:2024-12-26 21:00:07

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Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發(fā)射掃描電鏡搭載*的實時元素成像功能和先進(jìn)的自動光學(xué)系統(tǒng),實現(xiàn)灰色區(qū)域解析,讓您不再憂心顯微鏡性能,更加專注于研究本身。

Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發(fā)射掃描電鏡搭載*的實時元素成像功能和先進(jìn)的自動光學(xué)系統(tǒng),實現(xiàn)灰色區(qū)域解析,讓您不再憂心顯微鏡性能,更加專注于研究本身。


Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發(fā)射掃描電鏡具有多功能性和高質(zhì)量成像性能,采用了創(chuàng)新性的末級透鏡設(shè)計,引入靜電式末級透鏡,支持鏡筒內(nèi)高分辨率檢測,即使是針對磁性樣品也可實現(xiàn)成像及分析性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基礎(chǔ)之上,新一步優(yōu)化了超高分辨成像能力,并且增設(shè)許多新功能提升其易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平臺上引入了SmartAlign(智能對中)技術(shù),不再需要用戶手動進(jìn)行調(diào)整操作,而且,F(xiàn)LASH自動執(zhí)行精細(xì)調(diào)節(jié)工作,只需移動鼠標(biāo)幾次,就可以完成必要的透鏡居中、消像散和聚焦矯正。此外,Apreo 2 SEM在10mm分析工作距離下具有1nm分辨率的SEM,遠(yuǎn)的工作距離不再意味著低分辨成像,系統(tǒng)還可升級實時元素譜/圖成像功能,幾十年來傳統(tǒng)SEM-EDS固有的元素分析流程,將元素分析效率提升2倍有余。 Apreo 2 SEM,任何用戶都可以輕松地得到分析效果。


☆ 全面解析

全面的納米和亞納米分辨率性能,適用于納米顆粒、粉末、催化劑、納米器件、大塊磁性樣品等材料;


☆ 靈活性

非常靈活的處理范圍廣泛的樣品類型,包括絕緣體,敏感材料,或磁性樣品,并收集對您的應(yīng)用重要的數(shù)據(jù);


☆ SmartAlign技術(shù)

使用SmartAlign技術(shù)(智能調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)),實現(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)自動調(diào)整,減少維護(hù)時間;


☆ 先進(jìn)的自動化

先進(jìn)的自動化包括FLASH自動圖像微調(diào)、撤銷、用戶向?qū)?、Maps成像拼接的FLASH技術(shù);


☆ 實時定量EDS

元素信息觸手可及,利用ColorSEM技術(shù),提供實時元素面分布成像定量分析,結(jié)果獲取更加快速、簡便;


☆ 標(biāo)準(zhǔn)工作流操作
內(nèi)置了User Guidance(用戶工作流)功能,無論是初學(xué)者還是經(jīng)驗豐富,都能夠快速上手,并穩(wěn)定獲取實驗數(shù)據(jù)。


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