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更新時(shí)間：2021-03-23 13:58:51瀏覽次數(shù)：567
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美國LumaSense Photrix-光管光纖型高溫計(jì)詳細(xì)說明：
Photrix-光管光纖型
PhotriX 系列高精度紅外測溫儀具有業(yè)界jia的信噪比. 能夠以無yu倫比的精度測量較低的溫度，以控制高價(jià)值工藝和研究應(yīng)用. PhotriX 通過柔性光纜與遠(yuǎn)程的收集目標(biāo)紅外輻射藍(lán)寶石光管相連. 這種配置非常適合感應(yīng)加熱應(yīng)用或者通用光學(xué)鏡頭光路受阻無法對(duì)目標(biāo)進(jìn)行測溫的情況.
這種通過柔性光纜與遠(yuǎn)程藍(lán)寶石光管相連的 Photrix 高溫計(jì)有4種波長可選，具有如下特點(diǎn):
低溫測試能力 (詳見下表)
選配件包括模擬模塊 ( 4-20 mA 或 0-10V), 帶鏡頭吹掃的保護(hù)套, 8通道模塊。標(biāo)準(zhǔn)配置已包含所有必要的電纜，電源以及軟件和文檔.
| 溫度范圍 | ||||||
| Celsius | Fahrenheit | |||||
| P/N號(hào) | Spectral response | 直徑 2mm 光管鏡頭 | Min (°C) | Max (°C) | Min (°F) | Max (°F) |
| ML-GAPX-LO-SZ-LP2-XXX | 700-1650 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 200 μm ） | 100 | 1400 | 212 | 2552 |
| ML-GAPX-LO-MZ-LP2-XXX | 700-1650 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 600 μm ） | 65 | 950 | 149 | 1742 |
| ML-GAPX-LO-LZ-LP2-XXX | 700-1650 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 1000 μm ） | 60 | 900 | 140 | 1652 |
| ML-AAPX/088-LO-SZ-LP2-XXX | 880 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 200 μm ） | 300 | 2600 | 572 | 4712 |
| ML-AAPX/088-LO-MZ-LP2-XXX | 880 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 600 μm ） | 265 | 1900 | 509 | 3452 |
| ML-AAPX/088-LO-LZ-LP2-XXX | 880 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 1000 μm ） | 250 | 1600 | 482 | 2912 |
| ML-AAPX/090-LO-SZ-LP2-XXX | 900 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 200 μm ） | 290 | 2600 | 554 | 4712 |
| ML-AAPX/090-LO-SMZ-LP2-XXX | 900 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 600 μm ） | 255 | 1900 | 491 | 3452 |
| ML-AAPX/090-LO-LZ-LP2-XXX | 900 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 1000 μm ） | 240 | 1600 | 464 | 2912 |
| ML-GAPX/155-LO-SZ-LP2-XXX | 1550 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 200 μm ） | 155 | 2600 | 311 | 4712 |
| ML-GAPX/155-LO-MZ-LP2-XXX | 1550 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 600 μm ） | 115 | 2400 | 239 | 4352 |
| ML-GAPX/155-LO-LZ-LP2-XXX | 1550 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 1000 μm ） | 100 | 1800 | 212 | 3272 |
60 至 900 °C 或 100 至 1400 °C ，波長 700-1650 nm
100 至 2600 °C ，波長 1550 nm
240 至 2600 °C ，波長 900 nm
250 至 2600 °C ，波長 880 nm
快速響應(yīng) (1ms)
測量精度 +/- 1.5 °C 或讀數(shù)的 0.15%
重復(fù)精度 0.01 °C (see TN-828)
感應(yīng)加熱基座溫度控制
沉積過程中太陽能薄膜光伏基板的測量;
CZ 晶體生長
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