關(guān)于LANGER的產(chǎn)品介紹

1、LANGER掃描儀探頭100 KHz至50 MHz LFS-B 3

①LFS-B 3 H場探頭的測量線圈與探頭軸正交布置。當(dāng)探頭垂直放置時，測量線圈直接位于印刷電路板的表面上。這樣就可以在電路板表面上難以觸及的位置進行測量，例如在開關(guān)調(diào)節(jié)器的大型組件之間進行測量。

②LFS-B 3是無源近場探頭。與磁場探頭LFS-R 3的區(qū)別在于線圈旋轉(zhuǎn)了90°。LFS-B 3檢測從測量對象正交出現(xiàn)的磁場線。未檢測到從側(cè)面進入探頭的磁場線。近場探頭小巧方便。它具有護套電流阻尼并且具有電屏蔽功能。近場探頭連接到具有50Ω輸入的頻譜分析儀或示波器。H場探頭內(nèi)部沒有50端接電阻。

2、LANGER近場探頭

①單個近場探頭不足以搜索發(fā)射。而是，硬件開發(fā)人員的任務(wù)是選擇和使用相關(guān)的探針。

②對于模塊的EMC優(yōu)化，重要的是開發(fā)一種用于近場測量的測量策略，以便使用所選的近場探頭在板上找到發(fā)射源。

③Langer EMV-Technik GmbH為模塊上的近場偵察提供各種H/B近場探頭和E/D近場探頭。每個探針家族都是根據(jù)特定任務(wù)開發(fā)的。

④Langer EMV-Technik GmbH的近場探頭特別具有實用的引腳形狀。它們很小且方便。這使開發(fā)人員可以在其電子產(chǎn)品上進行靈活而有針對性的測量。

⑤Langer EMV-Technik GmbH的近場探頭通常適用于在100 kHz至20 GHz頻率范圍內(nèi)測量RF干擾所需的所有預(yù)一致性測量。

⑥所有近場探頭均由德國的Langer EMV-Technik GmbH開發(fā)，制造和校準(zhǔn)。具有校正特性，可以將輸出端的探針電壓轉(zhuǎn)換為探針頭位置處的磁場。校正特性可作為EXCEL作為xlsx文件下載準(zhǔn)備在他們的網(wǎng)站上。您會從Langer EMV-Technik GmbH獲得特別設(shè)計的成套或單獨的近場探頭。

3、LANGER近場探頭100 kHz至50 MHz LF1套裝

①近場探頭套件LF1包含四個屏蔽無源近場探頭，用于電子組件上LW，MW和KW范圍內(nèi)HF磁場的發(fā)展伴隨測量。Set LF1的探頭可以逐步定位模塊上的干擾發(fā)射源。

②首先，使用LF-R 400探頭從更遠(yuǎn)的距離確定模塊的干擾發(fā)射。此外，使用更高分辨率的探頭LF-B 3，LF-U 5和LF-U 2.5，可以更精確地定位干擾源。

③這些探頭可以對單個引腳，較大的組件和結(jié)構(gòu)部件進行測量。近場探頭小巧方便。它們具有護套電流阻尼并且被電屏蔽。近場探頭連接到具有50Ω輸入的頻譜分析儀或示波器。

④磁場探頭LF-B 3的測量線圈與探頭軸正交。當(dāng)探頭垂直放置時，測量線圈直接位于印刷電路板的表面上。結(jié)果，在電路板表面難以到達的位置進行了測量，例如在大型建筑物之間。