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涂層測(cè)厚儀問題分析

閱讀：774 發(fā)布時(shí)間：2023-7-28

涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。

問題分析：

1、測(cè)試數(shù)值偏差

新儀器與原來使用的儀器并非同一品牌、同一型號(hào)。由于儀器之間的差異性，測(cè)試結(jié)果就會(huì)有所區(qū)別。

出現(xiàn)這樣的問題原因是涂層測(cè)厚儀在測(cè)量前校準(zhǔn)選用的基點(diǎn)和校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)片不一樣。為了使得儀器測(cè)試數(shù)據(jù)保持一致，涂層測(cè)厚儀應(yīng)使用同一個(gè)校準(zhǔn)的零點(diǎn)基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，同時(shí)也要選用同一片標(biāo)準(zhǔn)塑料膜片在同一校準(zhǔn)基體上校準(zhǔn)。這樣測(cè)量得到的數(shù)據(jù)就能較為統(tǒng)一。

2、校準(zhǔn)后儀器依舊出現(xiàn)偏差

這樣的問題也是比較常見的。一般來說用戶都是使用測(cè)厚儀隨機(jī)校準(zhǔn)基體進(jìn)行校準(zhǔn)，這樣就要求用戶自己的產(chǎn)品的基體與隨機(jī)基體的材料相同，這種情況基本上不可能的。所以，客戶應(yīng)用選擇與待測(cè)樣品基體一致的材料（沒有涂層或鍍層）上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，再在上面用校正塊、塑料薄膜進(jìn)行校準(zhǔn)，這次測(cè)量數(shù)據(jù)才能更準(zhǔn)確。

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涂層測(cè)厚儀問題分析

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