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日本hanwa晶圓 ESD 測試儀陣容

閱讀:3329          發(fā)布時間:2021-12-20

日本hanwa晶圓 ESD 測試儀陣容

它是一種可以在Wafer上測試HBM和MM的設備。

產品名稱/型號設備描述目錄電影

HED-W5300D
HED-W5300D

全自動晶圓ESD測試儀

Wafer ESD 測試儀 HED-W5300D 與傳統(tǒng)產品 HED-W5100D 相比有了很大的發(fā)展,現(xiàn)在可以自動控制放置 Wafer 的平臺。
即使是 300mm 級的 Wafer 也可以通過簡單地將 Wafer 放在平臺上來輕松測量。
毫無疑問,工作效率將大大提高。
此外,除了常規(guī)產品外,還可以測試一般包裝產品。


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HED-W5100D
HED-W5100D

全自動晶圓ESD測試儀

從 LED 到用于系統(tǒng) LSI 的大直徑晶圓,HBM 和 MM 都可以應用。
施加ESD后,可以通過V/I測量來判斷破壞情況。
此外,可以使用與ESD測試密切相關的TLP測試設備進行組合測試。
對于在ESD測試中出現(xiàn)問題的器件獲取保護電路的工作參數(shù)很有用。
它是符合日本和海外標準的高度可靠的設備。(符合JEITA/ESDA/JEDEC標準)


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HED-W5000M
HED-W5000M

高性能
手動晶圓ESD測試儀

您可以通過操作機械手輕松對齊 2 個引腳。
施加脈沖后,可以通過 Vf/Im 測量來判斷破壞情況。


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HED-W5000M-SP0
HED-W5000M-SP0

低成本晶圓 ESD 測試儀

它以低成本提供高性能。
通過打開控制軟件,您可以構建廣泛的應用程序。




HED-W5000M-WFC
HED-W5000M-WFC

晶圓ESD測試儀

TLP測試設備在收集和分析內置于集成電路中的保護電路的工作參數(shù)方面發(fā)揮了重要作用,但隨著半導體小型化的進展,需要進一步的保護電路來提高ESD抗性,需要開發(fā)速度。
HED-W5000M-WFC測試儀可以觀察實際施加到器件上的ESD波形,這對于收集、分析和加快保護電路參數(shù)的開發(fā)非常有用。


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