紅外光非接觸式測厚儀的檢測優(yōu)勢

紅外線可以穿過某些物質(zhì)。
這是一種利用此特性在不接觸的情況下測量特定材料厚度的技術(shù)。

由于電子設(shè)備中使用的硅、藍(lán)寶石、水晶和其他化合物的表面都經(jīng)過高精度拋光，因此不能使用基于接觸的厚度測量，因?yàn)樗鼤潅鼈儭?/span>
此外，由于材料會變形，因此無法通過接觸法準(zhǔn)確測量橡膠、薄膜、軟樹脂等的厚度。

激光和電容是非接觸式厚度測量的常用方法，但這些是位移計(jì)，不能測量絕對值。我們的紅外光法可以測量絕對值。

 

紅外光測厚原理

當(dāng)紅外光投射到工件上時(shí)，它首先被表面反射。
此外，紅外光透過工件內(nèi)部并在背面反射。
正反兩面反射的光被光學(xué)探頭接收，利用正反兩面反射光的時(shí)間差作為光干涉差來測量厚度。

 

允許對多層進(jìn)行單獨(dú)的厚度測量

 

基于此原理，在如上圖所示的多層工件的情況下，可以從各個(gè)反射光的干涉差來測量單個(gè)厚度。

 

 

以上是PC上顯示反射光干涉狀態(tài)的界面。
從波形的左邊看，它變成了R1到R4的干擾波。每個(gè)干涉差（Peak to Peak）是每一層的厚度。

 

 

絕對值測量的*性

 

《相對值測量》

位移計(jì)是一種相對值測量，它測量距離的差異作為厚度。因此，必須準(zhǔn)備一個(gè)參考平面（零點(diǎn)）。
此外，如果到參考表面的距離 (Gs) 不是恒定的，則會出現(xiàn)錯(cuò)誤。如果無法維持或隨時(shí)間變化，則每次執(zhí)行測量時(shí)都需要進(jìn)行零點(diǎn)復(fù)位。