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適用于檢查光學(xué)薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷設(shè)備介紹

閱讀:524          發(fā)布時(shí)間:2024-11-13

適用于檢查光學(xué)薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷設(shè)備介紹

光學(xué)分辨率1.8μm/速度檢測(cè)!
用于基材和金屬表面的缺陷檢查!

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概述

這是使用高分辨率相機(jī)和高精度XY平臺(tái)的二維檢查裝置。
適用于檢查光學(xué)薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷。
光學(xué)分辨率為1.8μm,可實(shí)現(xiàn)高清檢查。
它還可以處理尺寸測(cè)量,還可以檢查二維沖壓產(chǎn)品。

特征

  • 自動(dòng)保存檢測(cè)數(shù)據(jù)和圖像

  • 攝像頭像素?cái)?shù):900萬(wàn)像素

  • 高光學(xué)分辨率(1.8μm)讓您可以清晰地看到精細(xì)的檢查點(diǎn)。

  • 非常適合檢查觸摸屏的外圍電極和印刷電路板上的精細(xì)布線(xiàn)是否有斷線(xiàn)和短路。


目的

用于檢查觸摸面板、異物等缺陷!

  • 觸控面板周邊電極缺陷檢測(cè)

  • 板材表面劃痕及異物檢查

  • 電路板缺陷檢查

系統(tǒng)配置


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