您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)

| 注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏該商鋪

4006800720

technology

首頁   >>   技術(shù)文章   >>   蔡司掃描電鏡新玩法 | 輕松實(shí)現(xiàn)關(guān)聯(lián)定位、自動成像和量化分析

卡爾蔡司(上海)管理有限...

立即詢價(jià)

您提交后,專屬客服將第一時(shí)間為您服務(wù)

蔡司掃描電鏡新玩法 | 輕松實(shí)現(xiàn)關(guān)聯(lián)定位、自動成像和量化分析

閱讀:1118      發(fā)布時(shí)間:2021-11-29
分享:

在使用掃描電鏡的過程中,您是否總是遭遇如下問題:

1. 在不同設(shè)備間切換樣品時(shí)總需耗費(fèi)大量時(shí)間重新定位感興趣區(qū)域

2. 總是為獲取大面積高分辨圖像而苦惱,需要頻繁切換成像參數(shù),調(diào)整像散聚焦

3. 得到圖像后又在為圖像的量化分析而發(fā)愁

針對以上的困擾和需求,蔡司對掃描電鏡進(jìn)行全新武裝,特別推出智能電鏡解決方案,解決以上提到的所有問題,確保您日常檢測和分析工作的順暢與高效。


關(guān)聯(lián)定位分析

蔡司Connect模塊輕松實(shí)現(xiàn)光學(xué)顯微鏡到掃描電鏡的橋接,快速實(shí)現(xiàn)樣品在不同設(shè)備間的重新定位,還能統(tǒng)一管理關(guān)聯(lián)設(shè)備的數(shù)據(jù)和信息

? 關(guān)聯(lián)定位:通過關(guān)聯(lián)樣品臺實(shí)現(xiàn)樣品在不同顯微鏡設(shè)備之間自動關(guān)聯(lián)重定位,大幅縮減操作用時(shí)

? 數(shù)據(jù)疊加:自由疊加來自手機(jī),光學(xué)顯微鏡,掃描電鏡的信息以及相關(guān)能譜信息

? 統(tǒng)一管理:管理來自不同關(guān)聯(lián)設(shè)備的數(shù)據(jù),輸出不同信息疊加圖像和視頻


PCB電路板的關(guān)聯(lián)顯微分析(光鏡,電鏡,能譜信息),左:宏觀圖像;右:感興趣位置局部放大


自動成像

蔡司SmartSEM Touch定制軟件,全面兼顧參數(shù)設(shè)置,成像,自動化拼圖,圖像瀏覽,實(shí)現(xiàn)智能高效的掃描電鏡成像

? 向?qū)讲僮髁鞒?,界面簡潔,操作簡?/p>

? 根據(jù)樣品智能匹配成像參數(shù),實(shí)現(xiàn)自動聚焦

? 簡單操作即可完成高通量圖像拍攝和拼接


簡潔的SmartSEM Touch操作界面


量化分析

蔡司ZEN模塊實(shí)現(xiàn)從電鏡圖像獲取,圖像處理,圖像分割,自動測量到報(bào)告生成的整個(gè)量化分析流程

? 一鍵獲取掃描電鏡圖像,向?qū)降姆治龉ぷ髁鞒?,毫無經(jīng)驗(yàn)的新手也可輕松掌握

? 基于機(jī)器學(xué)習(xí)的ZEN Intellesis模塊輕松實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)閾值方法難以達(dá)成的圖像處理需求

? 豐富的測量功能,如顆粒統(tǒng)計(jì)分析,孔隙率,含量百分比,層厚測量,晶粒度評級等

      

量化分析界面-二值化分割

      

金屬焊接位置孔隙大小分析及含量分析



          

滿足多種測量需求——高級測量

   

含量百分比

                 

晶粒度評級

  

顆粒分析

孔隙率分析


蔡司智能掃描電鏡解決方案滿足您的多種需求,您可關(guān)注蔡司顯微鏡微信公眾號(ZEISSMIK)了解蔡司智能掃描電鏡在生命科學(xué)、材料科學(xué)、金屬行業(yè)及電子行業(yè)四大領(lǐng)域解決方案。


會員登錄

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

標(biāo)簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用:

提示

您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
在線留言