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更新時(shí)間:2024-08-13 15:08:19瀏覽次數(shù):10517評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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儀器種類 | 熱場(chǎng)發(fā)射 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,能源,電子,冶金,綜合 |
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 Gemini系列
[ 產(chǎn)品簡(jiǎn)介 ]
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Gemini系列,具有出色的探測(cè)效率,能夠輕松實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像,適用于多種材料的高分辨成像與分析。其優(yōu)異的低電壓成像能力與表面細(xì)節(jié)靈敏度,讓您在對(duì)任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備更佳的靈活性,可獲取各類樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像。為生命科學(xué)研究實(shí)驗(yàn)室、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室、成像測(cè)試平臺(tái)、高?;蜓芯繖C(jī)構(gòu)提供靈活、可靠的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微技術(shù)與方案。
[ 產(chǎn)品特點(diǎn) ]
ü 出色的檢測(cè)效率
ü 優(yōu)異的低電壓分辨率和表面靈敏度
ü 靈活的探測(cè)手段獲取高分辨的圖像
ü 無(wú)漏磁鏡筒,輕松應(yīng)對(duì)磁性材料表征
ü 豐富的擴(kuò)展性
[ 應(yīng)用領(lǐng)域 ]
ü 材料科學(xué),如納米材料表征
ü 工業(yè)應(yīng)用,如失效分析,性能分析
ü 生命科學(xué),如大體積細(xì)胞高通量成像
ü 電池領(lǐng)域,如老化分析、電池材料表征
ü 電子半導(dǎo)體領(lǐng)域,如半導(dǎo)體器件失效研究與分析
ü 刑偵、法醫(yī)學(xué)
ü 考古學(xué)、文物保護(hù)與修復(fù)
InLens SE探測(cè)器磁性FeMn納米顆粒成像
InLens SE探測(cè)器NCM622正極顆粒成像
InLens SE 探測(cè)器和EsB 探測(cè)器同時(shí)對(duì)包埋在沸石中的銀納米顆粒成像
aBSD探測(cè)器FinFET結(jié)構(gòu)成像
NanoVP模式,細(xì)節(jié)兼顧景深。樣品無(wú)需噴金處理。
NanoVP模式下不導(dǎo)電玻璃片上的光刻膠樣品成像 小鼠大腦成像
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