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武漢頤光科技有限公司(Wuhan Eoptics Technology Co., Ltd.)是國內(nèi)專業(yè)從事橢偏儀以及光學(xué)納米測量設(shè)備研發(fā)、制造與銷售的高新技術(shù)企業(yè),公司由多位具有二十多年偏振光學(xué)測量經(jīng)驗(yàn)的專家聯(lián)合創(chuàng)辦,與華中科技大學(xué)緊密合作,是國內(nèi)橢偏光學(xué)儀器領(lǐng)域頗具優(yōu)勢的技術(shù)團(tuán)隊(duì)。 公司注冊于武漢東湖國家自主創(chuàng)新示范區(qū),立足光谷,面向全球,為科研和工業(yè)用戶提供儀器、軟件、服務(wù)等綜合解決方案。 產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于集成電路、半導(dǎo)體、光伏太陽能、平板顯示、LED照明、存儲、生物、醫(yī)藥、化學(xué)、電化學(xué)、光學(xué)鍍膜、光刻材料等眾多領(lǐng)域。 了解詳情
展會專區(qū)|2025慕尼黑上海光博會精彩回顧
2025 03-19
展會專區(qū)|2025慕尼黑上海光博會精彩回顧

2025年3月11-13日,慕尼黑上海光博會在上海新國際博覽中心圓滿收官。本屆展會為業(yè)界呈現(xiàn)了一場高層次的科技盛宴。同時(shí),本屆展會從展示范圍的廣泛度、光電產(chǎn)品的豐富度、趨勢傳遞的新穎度、交流合作的深入

  • 2025 03-05
    展會邀請函|頤光科技邀您共赴2025慕尼黑上海光博會

    慕尼黑上海光博會將于2025年3月11-13日在上海新國際博覽中心盛大召開。2025年正值慕尼黑上海光博會20周年,作為亞洲激光、光學(xué)、光電行業(yè)的年度盛會,本屆展會以“躬耕不輟,智啟新程”為主題,超過

  • 2020 08-12
    喜訊!武漢頤光科技有限公司榮獲2019年度湖北省技術(shù)發(fā)明一等獎

    華中科技大學(xué)聯(lián)合武漢頤光科技科技有限公司開發(fā)的“高精度寬光譜穆勒矩陣橢偏測量關(guān)鍵技術(shù)與納米測量應(yīng)用”項(xiàng)目榮獲湖北省技術(shù)發(fā)明一等獎。此獎項(xiàng)由省人民政府設(shè)立,經(jīng)省科學(xué)技術(shù)獎勵評審委員會評審、省科學(xué)技術(shù)獎勵

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  • 09-222025
    國產(chǎn)膜厚儀的維護(hù)與保養(yǎng)

    國產(chǎn)膜厚儀的維護(hù)不僅僅是對其表面進(jìn)行清潔,更重要的是定期校準(zhǔn)、檢查和保證設(shè)備在適宜的工作環(huán)境中運(yùn)行。以下是膜厚儀維護(hù)的幾個(gè)關(guān)鍵方法:1.清潔維護(hù)儀器測量精度與儀器表面的清潔程度息息相關(guān)。任何附著在傳感

  • 09-102025
    如何提高橢圓偏光儀的環(huán)境適應(yīng)性?

    橢圓偏光儀作為精密光學(xué)測量設(shè)備,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、光學(xué)薄膜、材料科學(xué)以及納米技術(shù)等領(lǐng)域。其主要功能是通過測量反射光或透射光的偏振狀態(tài),來推算樣品的厚度、折射率以及光學(xué)常數(shù)等參數(shù)。由于橢圓偏光儀屬于

  • 08-292025
    反射膜厚儀在使用時(shí)應(yīng)關(guān)注哪些方面?

    反射膜厚儀是一種利用光譜反射原理測量薄膜厚度和折射率的精密儀器,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、光學(xué)鍍膜、平板顯示、太陽能電池等領(lǐng)域。特點(diǎn):非破壞性測量無需接觸或損傷樣品,可對成品、半成品進(jìn)行多次復(fù)測,避免樣品

  • 08-252025
    穆勒矩陣光譜橢偏儀結(jié)構(gòu)詳解

    穆勒矩陣光譜橢偏儀基于更普適的穆勒-斯托克斯形式主義。它通過系統(tǒng)性地改變?nèi)肷涔獾钠駪B(tài)(由起偏器和可調(diào)偏振態(tài)發(fā)生器實(shí)現(xiàn)),并精確測量所有四個(gè)斯托克斯參量構(gòu)成的反射或透射光偏振態(tài)(由檢偏器和偏振態(tài)分析器

  • 08-132025
    在線膜厚儀在薄膜行業(yè)中的實(shí)際應(yīng)用與挑戰(zhàn)

    在線膜厚儀廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域,如半導(dǎo)體制造、光學(xué)涂層、電池制造、涂料、塑料和金屬薄膜等。每個(gè)領(lǐng)域的薄膜種類和厚度要求不同,因此對膜厚儀的精度、穩(wěn)定性、適用范圍等要求也各不相同。不同種類的薄膜對膜厚儀的

  • 07-312025
    在選購光譜橢偏儀時(shí)可以關(guān)注哪些因素?

    光譜橢偏儀是一種高精度的光學(xué)測量儀器,主要用于分析材料的光學(xué)性質(zhì)(如折射率、消光系數(shù))、薄膜厚度(從納米到微米級)以及表面/界面的微觀結(jié)構(gòu)信息。其核心原理是利用光的偏振狀態(tài)在材料表面反射或透射后的變化

  • 07-232025
    膜厚測試儀所需附件與耗材的重要性解析

    膜厚測試儀主要用于測量薄膜或涂層材料的厚度。根據(jù)工作原理的不同,可以分為幾種類型,常見的有電渦流法、磁性法、X射線熒光法等。這些測試方法依賴于不同的物理原理來進(jìn)行膜層厚度的測量。電渦流法通常用于非鐵金

  • 07-072025
    教學(xué)橢偏儀的設(shè)計(jì)特點(diǎn)及其在教學(xué)中的應(yīng)用

    教學(xué)橢偏儀作為一種重要的光學(xué)測量工具,廣泛應(yīng)用于研究、材料分析以及工業(yè)測試領(lǐng)域。在教學(xué)中,不僅能幫助學(xué)生直觀理解光學(xué)原理,還能加深學(xué)生對光學(xué)薄膜、表面特性等物理現(xiàn)象的認(rèn)識。針對教學(xué)需求設(shè)計(jì)的橢偏儀,通


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