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當前位置:
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[供應(yīng)]GDAT-A-漆膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀
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  • GDAT-A-漆膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀
貨物所在地:
北京北京市
更新時間:
2024-12-09 21:00:07
有效期:
2024年12月9日 -- 2025年6月9日
已獲點擊:
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產(chǎn)品簡介

漆膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀符合標準:
ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數(shù))的標準試驗方法;
GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法;
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法;
GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法第4部分:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值

詳細介紹

漆膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀特點:

  ◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

  ◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

  ◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

  ◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。

  ◎ Q值量程自動/手動量程控制。

  ◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。

  ◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標AST# D150以及IEC60250規(guī)范要求。

頻率范圍 10kHz~10MHz 100kHz~10MHz

  固有誤差 ≤5%±滿度值的2% ≤5%±滿度值的2%

  工作誤差 ≤7%±滿度值的2% ≤7%±滿度值的2%

  頻率范圍 10MHz~70MHz 10MHz~160MHz

  固有誤差 ≤6%±滿度值的2% ≤6%±滿度值的2%

  工作誤差 ≤8%±滿度值的2% ≤8%±滿度值的2%

Q值測量

  a.Q值測量范圍:2~1023;

  b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔

  介質(zhì)損耗:絕緣材料在電場作用下,由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng),在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失,簡稱介損。在交變電場作用下,電介質(zhì)內(nèi)流過的電流相量和電壓相量之間的夾角(功率因數(shù)角Φ)的余角δ稱為介質(zhì)損耗角。

  損耗因子也指耗損正切,是交流電被轉(zhuǎn)化為熱能的介電損耗(耗散的能量)的量度,一般情況下都期望耗損因子低些好

  概念:

  電介質(zhì)在外電場作用下,其內(nèi)部會有發(fā)熱現(xiàn)象,這說明有部分電能已轉(zhuǎn)化為熱能耗散掉,電介質(zhì)在電場作用下,在單位時間內(nèi)因發(fā)熱而消耗的能量稱為電介質(zhì)的損耗功率,或簡稱介質(zhì)損耗(diclectric loss)。介質(zhì)損耗是應(yīng)用于交流電場中電介質(zhì)的重要品質(zhì)指標之一。介質(zhì)損耗不但消耗了電能,而且使元件發(fā)熱影響其正常工作。如果介電損耗較大,甚至會引起介質(zhì)的過熱而絕緣破壞,所以從這種意義上講,介質(zhì)損耗越小越好。

漆膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀

影響介電性能的因素

  下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強度對介電性能的影響。

  1頻率

  因為只有少數(shù)材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內(nèi)它們的 。r和 tans幾乎是恒定的,且被用作工程電介質(zhì)材料,然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率。

  電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的變化是由于介質(zhì)極化和電導(dǎo)而產(chǎn)生,重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導(dǎo)致的界面極化所引起的.

  2溫度

  損耗指數(shù)在一個頻率下可以出現(xiàn)一個大值,這個頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān)。介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負的,這取決于在測量溫度下的介質(zhì)損耗指數(shù)大值位置。

  3濕度

  極化的程度隨水分的吸收量或電介質(zhì)材料表面水膜的形成而增加,其結(jié)果使電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電導(dǎo)率增大。因此試驗前和試驗時對環(huán)境濕度進行控制是的.

  注:濕度的顯著影響常常發(fā)生在 1MHz以下及微波頻率范圍內(nèi)

  4電場強度

  存在界面極化時,自由離子的數(shù)目隨電場強度增大而增加,其損耗指數(shù)大值的大小和位置也隨此而變。

  在較高的頻率下,只要電介質(zhì)中不出現(xiàn)局部放電,電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)與電場強度無關(guān)

  測量方法的選擇:

  高頻/音頻介電常數(shù)測試儀GDAT-A測量電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的方法可分成兩種:零點指示法和諧振法。

  1 零點指示法適用于頻率不超過50 MHz時的測量。測量電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)可用替代法;也就是在接人試樣和不接試樣兩種狀態(tài)下,調(diào)節(jié)回路的一個臂使電橋平衡。通?;芈凡捎梦髁蛛姌颉⒆儔浩麟姌?也就是互感藕合比例臂電橋)和并聯(lián) T型網(wǎng)絡(luò)。變壓器電橋的優(yōu)點:采用保護電極不需任何外加附件或過多操作,就可采用保護電極;它沒有其他網(wǎng)絡(luò)的缺點。

  2 諧振法適用于10 kHz一幾百MHz的頻率范圍內(nèi)的測量。該方法為替代法測量,常用的是變電抗法。但該方法不適合采用保護電極。

  注:典型的電橋和電路示例見附錄。附錄中所舉的例子自然是不全面的,敘述電橋和側(cè)量方法報導(dǎo)見有關(guān)文獻和該種儀器的原理說明書。

工作原理

  1.“Q”的定義

  Q表是根據(jù)串聯(lián)諧振原理設(shè)計,以諧振電壓的比值來定位Q值。

  “Q”表示元件或系統(tǒng)的“品質(zhì)因數(shù)”,其物理含義是在一個振蕩周期內(nèi)貯存的能量與損耗的能量之比。對于電抗元件(電感或電容)來說,即在測試頻率上呈現(xiàn)的電抗與電阻之比。

  或 (1)

  圖 一

  在圖(一)所示的串聯(lián)諧振電路中,所加的信號電壓為Ui,頻率為f,在發(fā)生諧振時

  或 (2)

  回路中電流 (3)

  故電容兩端的電壓

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