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板材薄膜介電常數(shù)測試儀雙掃描技術(shù)-測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。
雙測試要素輸入-測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。雙數(shù)碼化調(diào)諧-數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
板材薄膜介電常數(shù)測試儀基本原理是采用高頻諧振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機控制儀器，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定、標準頻率測試點自動設(shè)定、諧振點自動搜索、Q值量程自動轉(zhuǎn)換、數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至較低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，測量時更為準確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。
板材薄膜介電常數(shù)測試儀
式中：
G=等效交流電導，
Xp=并聯(lián)電抗，
Rp=等效交流并聯(lián)電阻，
Cp=并聯(lián)電容，
ω=2πf（假設(shè)為正弦波形狀）
耗散因子的倒數(shù)為品質(zhì)因子Q，有時成為儲能因子。對于串聯(lián)和并聯(lián)模型，電容器耗散因子D都是相同的，按如下表示為：
D=ωRsCs=1/ωRpCp
串聯(lián)和并聯(lián)部分之間的關(guān)系滿足以下要求：
Cp=Cs/(1 D2)
Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2
相對介電常數(shù)εr可以用靜電場用如下方式測量:首先在其兩塊極板之間為空氣的時候測試電容器的電容C0.然后,用同樣的電容極板間距離但在極板間加入電介質(zhì)后側(cè)得電容Cx.然后相對介電常數(shù)可以用下式計算
εr=Cx/C0
