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產(chǎn)品分類 品牌分類

光催化及光敏材料測試設(shè)備

光催化專用太陽光模擬器高準(zhǔn)直紫外光源
鈣鈦礦LED/OLED測試設(shè)備

發(fā)光效率測量系統(tǒng) 光譜分析系統(tǒng) 光電性能測量系統(tǒng)
薄膜性能測試設(shè)備

薄膜應(yīng)力測試儀薄膜熱應(yīng)力測量系統(tǒng) 薄膜生長速率測試儀薄膜/涂層殘余應(yīng)力儀電池電極應(yīng)力測試系統(tǒng) 薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng) 原位薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試系統(tǒng) kSA BandiT實(shí)時(shí)襯底溫度測試儀 kSA 400 RHEED分析系統(tǒng) 反射高能電子衍射儀 RHEED 應(yīng)力測量系統(tǒng)
日本SAN-EI 太陽光模擬器

AAA+級(jí)雙光太陽光模擬器 AAA太陽光模擬器 150W 太陽光模擬器聚光太陽光模擬器太陽能電池IV性能測試儀太陽能電池組件測試儀太陽能電池測試多通道太陽能電池穩(wěn)定性測試 OLED模擬軟件太陽能電池穩(wěn)定性測試太陽能電池載流子測試光纖太陽光模擬器光譜響應(yīng)/量子效率量測儀全光譜太陽光模擬器太陽能電池量子效率測試系統(tǒng) AAA級(jí)太陽光模擬器雙燈太陽光模擬器穩(wěn)態(tài)太陽光模擬器瞬態(tài)光電流/光電壓測試系統(tǒng) 太陽能電池載流子測試設(shè)備載流子擴(kuò)散長度測試系統(tǒng)
共聚焦顯微鏡
激光光束質(zhì)量分析儀
納米材料制備設(shè)備

石墨烯制備系統(tǒng)（CVD）噴霧熱解成膜系統(tǒng) 碳納米管CVD制備系統(tǒng) 原子層沉積系統(tǒng) 卷對(duì)卷涂布系統(tǒng) 涂布機(jī)
微納米加工設(shè)備

納米壓印系統(tǒng)
介電/壓電材料測試設(shè)備

電卡效應(yīng)測試儀高溫介電測試系統(tǒng) 熱釋電測試儀熱刺激電流測試儀精密壓電系數(shù)測試儀高分子壓電系數(shù)測試儀高場寬頻譜介電測量系統(tǒng) 低溫寬頻介電測量系統(tǒng) 電滯回線及高壓介電擊穿強(qiáng)度測試系統(tǒng) 高壓漏電流及熱釋電測量系統(tǒng) 電容充放電測試儀
太陽能電池測試設(shè)備

瞬態(tài)光電壓測試瞬態(tài)光電流測試太陽能電池老化測試太陽能電池老化壽命測試儀鈣鈦礦太陽能電池測試儀太陽能電池單體測試儀太陽能電池測試夾具太陽能電池IV測試軟件
氙燈電源
高純度鈣鈦礦前驅(qū)體材料
其他相關(guān)設(shè)備

北卡黃勁松團(tuán)隊(duì)：空隙對(duì)鈣鈦礦太陽能電池的熱穩(wěn)定性和光穩(wěn)定性影響的研究

閱讀：1174 發(fā)布時(shí)間：2022/9/27

主要內(nèi)容

在薄膜沉積過程中，會(huì)在接近埋底界面的鈣鈦礦薄膜中形成空隙。這些空隙被認(rèn)為限制了鈣鈦礦太陽能電池 (PSCs) 的效率和穩(wěn)定性。北卡羅來納大學(xué)黃勁松團(tuán)隊(duì)研究了鈣鈦礦薄膜在運(yùn)行過程中形成的空隙，并通過優(yōu)化溶液沉積過程以避免產(chǎn)生空隙。在運(yùn)行過程中發(fā)現(xiàn)形成的新空隙會(huì)沿著底部界面處的晶界聚集，這是由于殘留溶劑的損失和非晶相向晶相的轉(zhuǎn)化所引起的。然而，形成的這些空隙并沒有對(duì)鈣鈦礦太陽能電池的穩(wěn)定性產(chǎn)生不良的影響。通過熱退火處理降低鈣鈦礦薄膜中的非晶區(qū)來降低正碘化物間隙密度，同時(shí)提高了鈣鈦礦太陽能電池的光穩(wěn)定性。退火處理的器件在1sun光照下50℃時(shí)，開路條件下光浸泡1900小時(shí)后仍然能保持初始效率的90%。