產(chǎn)品分類 品牌分類

光催化及光敏材料測試設(shè)備

光催化專用太陽光模擬器高準(zhǔn)直紫外光源
鈣鈦礦LED/OLED測試設(shè)備

發(fā)光效率測量系統(tǒng) 光譜分析系統(tǒng) 光電性能測量系統(tǒng)
日本SAN-EI 太陽光模擬器

AAA+級雙光太陽光模擬器 AAA太陽光模擬器 150W 太陽光模擬器聚光太陽光模擬器太陽能電池IV性能測試儀太陽能電池組件測試儀太陽能電池測試多通道太陽能電池穩(wěn)定性測試 OLED模擬軟件太陽能電池穩(wěn)定性測試太陽能電池載流子測試光纖太陽光模擬器光譜響應(yīng)/量子效率量測儀全光譜太陽光模擬器太陽能電池量子效率測試系統(tǒng) AAA級太陽光模擬器雙燈太陽光模擬器穩(wěn)態(tài)太陽光模擬器瞬態(tài)光電流/光電壓測試系統(tǒng) 太陽能電池載流子測試設(shè)備載流子擴(kuò)散長度測試系統(tǒng)
薄膜性能測試設(shè)備

薄膜應(yīng)力測試儀薄膜熱應(yīng)力測量系統(tǒng) 薄膜生長速率測試儀薄膜/涂層殘余應(yīng)力儀電池電極應(yīng)力測試系統(tǒng) 薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng) 原位薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試系統(tǒng) kSA BandiT實時襯底溫度測試儀 kSA 400 RHEED分析系統(tǒng) 反射高能電子衍射儀 RHEED 應(yīng)力測量系統(tǒng)
共聚焦顯微鏡
激光光束質(zhì)量分析儀
納米材料制備設(shè)備

石墨烯制備系統(tǒng)（CVD）噴霧熱解成膜系統(tǒng) 碳納米管CVD制備系統(tǒng) 原子層沉積系統(tǒng) 卷對卷涂布系統(tǒng) 涂布機(jī)
微納米加工設(shè)備

納米壓印系統(tǒng)
介電/壓電材料測試設(shè)備

電卡效應(yīng)測試儀高溫介電測試系統(tǒng) 熱釋電測試儀熱刺激電流測試儀精密壓電系數(shù)測試儀高分子壓電系數(shù)測試儀高場寬頻譜介電測量系統(tǒng) 低溫寬頻介電測量系統(tǒng) 電滯回線及高壓介電擊穿強(qiáng)度測試系統(tǒng) 高壓漏電流及熱釋電測量系統(tǒng) 電容充放電測試儀
太陽能電池測試設(shè)備

瞬態(tài)光電壓測試瞬態(tài)光電流測試太陽能電池老化測試太陽能電池老化壽命測試儀鈣鈦礦太陽能電池測試儀太陽能電池單體測試儀太陽能電池測試夾具太陽能電池IV測試軟件
氙燈電源
高純度鈣鈦礦前驅(qū)體材料
其他相關(guān)設(shè)備

使用Phelos光致發(fā)光系統(tǒng)分析二元共混物中納米片狀固體偶極矩取向

閱讀：1041 發(fā)布時間：2023/1/31

主要內(nèi)容

調(diào)整低維半導(dǎo)體中的躍遷偶極矩（TDM）方向具有實際意義，因為它可以實現(xiàn)高效的納米光子和發(fā)光二極管，但允許連續(xù)調(diào)整TDM方向的材料仍然比較少見。

文中結(jié)合k-Space光致發(fā)光光譜和多尺度建模，證明了鹵化鉛鈣鈦礦（LHP）納米片（NPL）狀固體中的TDM趨向在很大程度上是通過NPL幾何結(jié)構(gòu)來限制可調(diào)的。其進(jìn)一步量化了NPL組裝過程中單軸排序在改變薄膜宏觀發(fā)射方向相關(guān)的作用，這在實際光電器件中尤其重要。實驗結(jié)果表明，即使在室溫下，超薄（one- and two-monolayer-thick）NPLs的面內(nèi)偶極比也會有所降低。由于相分離和NPL–NPL去耦合，NPLs在二元共混物中保持其TDM趨向，而不考慮粒子間能量轉(zhuǎn)移，這使得設(shè)計的薄膜熒光顯示出固有的角度與顏色梯度的依耐性。

使用Fluxim提供的Setfos模擬仿真軟件對實驗數(shù)據(jù)進(jìn)行評估。

使用配備光譜儀、線性偏振器的商用儀器 Phelos（Fluxim Inc.）對 NPL 薄膜角度依賴的PL光致發(fā)光譜進(jìn)行了分析。

產(chǎn)品推薦-Setfos模擬仿真軟件

Setfos用于各種類型太陽能電池（包括鈣鈦礦、有機(jī)、疊層、硅基電池等）、鈣鈦礦LED、OLED器件及相關(guān)光電材料性能的仿真系統(tǒng)，對器件設(shè)計、構(gòu)建、光學(xué)性能、電學(xué)性能以及光電材料的性能進(jìn)行模擬計算和優(yōu)化。（點(diǎn)擊訪問）