產(chǎn)品分類 品牌分類

光催化及光敏材料測(cè)試設(shè)備

光催化專用太陽光模擬器高準(zhǔn)直紫外光源
鈣鈦礦LED/OLED測(cè)試設(shè)備

發(fā)光效率測(cè)量系統(tǒng) 光譜分析系統(tǒng) 光電性能測(cè)量系統(tǒng)
日本SAN-EI 太陽光模擬器

AAA+級(jí)雙光太陽光模擬器 AAA太陽光模擬器 150W 太陽光模擬器聚光太陽光模擬器太陽能電池IV性能測(cè)試儀太陽能電池組件測(cè)試儀太陽能電池測(cè)試多通道太陽能電池穩(wěn)定性測(cè)試 OLED模擬軟件太陽能電池穩(wěn)定性測(cè)試太陽能電池載流子測(cè)試光纖太陽光模擬器光譜響應(yīng)/量子效率量測(cè)儀全光譜太陽光模擬器太陽能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng) AAA級(jí)太陽光模擬器雙燈太陽光模擬器穩(wěn)態(tài)太陽光模擬器瞬態(tài)光電流/光電壓測(cè)試系統(tǒng) 太陽能電池載流子測(cè)試設(shè)備載流子擴(kuò)散長度測(cè)試系統(tǒng)
薄膜性能測(cè)試設(shè)備

薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜熱應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng) 薄膜生長速率測(cè)試儀薄膜/涂層殘余應(yīng)力儀電池電極應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng) 薄膜應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng) 原位薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng) kSA BandiT實(shí)時(shí)襯底溫度測(cè)試儀 kSA 400 RHEED分析系統(tǒng) 反射高能電子衍射儀 RHEED 應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng)
共聚焦顯微鏡
激光光束質(zhì)量分析儀
納米材料制備設(shè)備

石墨烯制備系統(tǒng)（CVD）噴霧熱解成膜系統(tǒng) 碳納米管CVD制備系統(tǒng) 原子層沉積系統(tǒng) 卷對(duì)卷涂布系統(tǒng) 涂布機(jī)
微納米加工設(shè)備

納米壓印系統(tǒng)
介電/壓電材料測(cè)試設(shè)備

電卡效應(yīng)測(cè)試儀高溫介電測(cè)試系統(tǒng) 熱釋電測(cè)試儀熱刺激電流測(cè)試儀精密壓電系數(shù)測(cè)試儀高分子壓電系數(shù)測(cè)試儀高場(chǎng)寬頻譜介電測(cè)量系統(tǒng) 低溫寬頻介電測(cè)量系統(tǒng) 電滯回線及高壓介電擊穿強(qiáng)度測(cè)試系統(tǒng) 高壓漏電流及熱釋電測(cè)量系統(tǒng) 電容充放電測(cè)試儀
太陽能電池測(cè)試設(shè)備

瞬態(tài)光電壓測(cè)試瞬態(tài)光電流測(cè)試太陽能電池老化測(cè)試太陽能電池老化壽命測(cè)試儀鈣鈦礦太陽能電池測(cè)試儀太陽能電池單體測(cè)試儀太陽能電池測(cè)試夾具太陽能電池IV測(cè)試軟件
氙燈電源
高純度鈣鈦礦前驅(qū)體材料
其他相關(guān)設(shè)備

彭強(qiáng)、徐小鵬AM：寬帶隙聚合物給體實(shí)現(xiàn)效率19.54%的有機(jī)太陽能電池

閱讀：825 發(fā)布時(shí)間：2023/3/17

主要內(nèi)容

在這篇文章中，四川大學(xué)彭強(qiáng)教授、徐小鵬團(tuán)隊(duì)以雙環(huán)二氟苯并[d]噻唑（BTz）為受體嵌段，苯并[1，2-b：4，5-b′]二噻吩（BDT）衍生物為給體單元，開發(fā)了一系列新的WBG聚合物，即PH-BTz、PS-BTz、PF-BTz和PCl-BTz。通過將S、F和Cl原子引入BDT上的烷基噻吩基側(cè)鏈，所得聚合物表現(xiàn)出更低的能級(jí)和增強(qiáng)的聚集性能。

氟化的PBTz-F不僅表現(xiàn)出較低的HOMO水平，而且具有更強(qiáng)的堆積有序性，并在相關(guān)的PF-BTz：L8-BO共混物中產(chǎn)生了更均勻的纖維樣互穿網(wǎng)絡(luò)。實(shí)現(xiàn)了18.57%的高功率轉(zhuǎn)換效率（PCE）。此外，PBTz-F還表現(xiàn)出良好的批次重復(fù)性和普遍適用性?；谥黧wPBTz-F：L8-BO和PM6的三元共混OSCs顯示出進(jìn)一步增強(qiáng)的PCE，高達(dá)19.54%，是目前OSCs器件性能最高值之一。