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什么是瞬態(tài)光電壓測(cè)試？
瞬態(tài)光電壓技術(shù)，可以用來研究光生電荷分高的動(dòng)力學(xué)信息，包括光生電荷分寓過程中的漂移和擴(kuò)散過程：漂移過程一般指發(fā)生在顆粒內(nèi)的快速分高過程；而主廣散過程一般為長時(shí)同范圍內(nèi)顆粒間的電荷傳輸。另外，通過分析瞬態(tài)光電壓譜的形狀、時(shí)同尺度、符號(hào)、強(qiáng)度等方面可以得到光生電荷分離和復(fù)合的快慢、分離方向、分離模式、分離程度等一系列信息。瞬態(tài)光電壓測(cè)試系統(tǒng)是多功能載流子遷移率綜合分析系統(tǒng)的一個(gè)具有代表性的測(cè)試。
本公司提供的瞬態(tài)光電壓測(cè)試系統(tǒng)整合了DC,AC和瞬態(tài)測(cè)試，用于太陽能電池瞬態(tài)光電流譜TPC，瞬態(tài)光電壓譜TPV，光強(qiáng)相關(guān)性測(cè)試、變光強(qiáng)J-V曲線、線性增壓載流子抽取Photo-CELIV、強(qiáng)度調(diào)制光電流譜IMPS、強(qiáng)度調(diào)制光電壓譜IMVS、阻抗譜IS、電容電壓譜CV、深能級(jí)瞬態(tài)譜DLTS等進(jìn)行測(cè)量分析，全面深入的表征器件的載流子遷移率、載流子壽命和濃度、載流子動(dòng)力學(xué)過程、摻雜和陷阱分布等性能參數(shù)，從而對(duì)太陽能電池/OLED器件和其他有機(jī)半導(dǎo)體中的載流子遷移率進(jìn)行全面有效的分析和測(cè)量。